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林祖辰,GregoryS.Becker/张世中道康宁公司(DowCorning
随着市场上对微处理器的性能要求越来越高,又寸硅
芯片级(siliconlevel)功率消耗的要求也愈来愈高;此
外,更小的机壳尺寸、更安静Pc运作、以及更低硅晶体
操作温度等的需求,共同形成了散热问
。为了加强散
热效果,使用热导材料(The砌alIn【erfaceMate『ials,
TIMs)将可有效降低热阻。热导材料通常由高分子材料
和高热导性填料(金属或陶瓷)组成。这类材料大致可
以分为下面几种:热导环氧树脂(thennalEpoxy),相变
材料fP}lasechaflgemaLeriHl,PCM),导热膏和凝胶。和其
它几类材料相比,在CPU的应用中,导热膏具有以下优
点如:本身热导率高、胶层厚度薄(bondline
£hickness,BLT),附着压力(attacbpressure)最
小,再加工性(reworkability)好。在热导材料开发
图1.桌上型计算机、工作站和服务器的散热结构示意图
过程中,不可避免地要兼顾产品性能、成本、使用性
和可靠性。这篇文章主要在探讨导热膏开发过程中遇到
的设训‘和技术问题。
简介
随着微处理器功能和效能日益增强,市场上对其散
热的要求也愈来愈高,将组件操作温度保持在一定范围
内有两个主要原因【参考文献1]。
1.电路(品体管)的运作可靠性取决于组件连接点
(junction)的操作温度,因此,操作温度的微小变
化f如10—15。c之问)即可以导致组件使用寿命相差两倍
之多。
2.另一个原因是微处理器速
度。较低的操作温度可降低闸延
迟(gatedelay),使微处理器可
以更高的速度工作。较低温度的
另一个好处是降低组件无谓的功
率耗散(也被称作泄漏功耗,
leakagepower),而这也降低r
总功率耗散。
在以卜-两个因素共同作用下,
”8 May2004-电子与电脑CompoTech、^nⅣw.compotech.com.cn
万方数据
≯ 一
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使组件的操作温度间接影响了工作速度。 导热膏由两种主要成分组成:高分子聚合物和填料。
在业界与院校研究人员的积极投入下,目前市场上
的热解决
可以简略分成两个类烈笔记型计算机和
其它(桌上型、服务器、工作站等)。图1是桌上型计算
机、服务器和工作站的结构示意图。这里一项关键的
假设是热传导大部分通过硅片的非活动面(inactive
sideofthesilicon)进行,散热管理也主要透过这条热
传导途径进行,而最后热能即藉由散热片向周围环境散
逸。
热导材料技术大致可以分为下面几种:热导环氧树
脂、相变材料、导热膏和凝胶。在这些不同的技术
中,导热膏在cPu的应用上具有以下优点,如:本
身热导率高、胶层厚度薄、附着压力最小、再加工性
(reworkabilitv)好等。因此,本文将着重在导热膏
的讨论。
导热膏
考虑事项
1.导热胄配方
表1.选定填料的导热性
聚合物选择:选择聚合物通常要考虑它和填料的兼
容性、对配合面(matingsurface)的润湿能力、粘
度和其它效能表现。可以承受的最大填料添加量是由
聚合物对填料的热力学润湿性(thermodynamic
wettability)和聚合物粘度决定。通常选择硅胶为聚合
物,因为它热稳定性高、可改善配合表面润湿性的低
表面能、应力低及压力吸收性好。
填料选择:热导材料的关键成分是填料,其作用
在于导热。为便于加工和处理,填料分散于导热性较
差的聚合物中。填料的重要特质包括本身热属性(bulk
thermalproperty),形态(颗粒大小和形状)以及分
散度。若考虑到介电性能和成本,则通常使用陶瓷粉
末,如:氧化铝及氧化锌,另外,也可使用金属颗
粒,如:银及铝,表1列出所选填料的导热性。
导热膏可以看作是固体颗粒在液体介质中的悬浮
液。高填充导热膏(体积超过30%)具有粘弹行为。
导热膏粘度视所受的剪切速率而定。图2和3显示导热
膏典型的切力变稀现象及其动态模量。
这意味着仅用粘度测定不足以描
述其流变现象,而其流变性对网版
印刷(screenprint)和分散性
(dispensability)很重要。这些模式
也可预测恒稳态胶层厚度(constant
steadvstateBLT),而胶层厚度是影
响热阻的重要因素,我们将在后面
讨论。
可用Krieger和Doughtery方程式
描述流变行为[参考文献2]。
www.compotech.com.cn电子与电脑CompoTech一2004May 119
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n=ns(1一品)m”(1)
其中表示导热膏粘度,11s
表示聚合物粘度(假设聚合物
是牛顿流体),[11]表示特性粘
度, 表示填料体积分数,
。是最大填充分数。对只有一种
尺寸、随机填充的球体颗粒,
一系列实验和计算机仿真研究显
示,其最大充填率(maximum
packingfraction)。介于0.6和
0.64之间【参考文献3—5]。方程
式(1)的参数,[]和。已由
图2.导热膏的切力变稀变化
Ba,ne。等人制成表格[参考文献2]。 看虑
导热膏中填料的体积分数影响其本体热导率。为了 在热导材料设计中,热效能是最重要的属性之一。
将填料充填最大化,应使用几种不同颗粒尺寸的填料。 热导材料在散热解决方案中用于连接不同零件,在固体
颗粒尺寸分布对粘度影响很大,特别是,在体积分数 表面之间插入热导材料后,位于接口的有效热阻
相同的情况下,当混和两种不同尺寸的颗粒时,其粘 (effectiVethermalresistance)RTIM由两部分组成,即
度比只有一种颗粒尺寸的悬浮液可能要小得多。而若使 热导材料的有限热导率(“nitethe瑚alresistance)带
用三种以上不同尺寸的填料,将可以使最大填充分数高 来的本体热阻(bulkresistance)Rbulk和热导材料及其
达0.9以匕『参考文献6]。 图3.导热膏的动态模量与频搴的函数美系
为了改善导热膏的流动
性,需对填料进行表面处理
(涂层)。典型的表面处理
剂有硅烷或硅氧烷,如甲氧
基硅烷或脂肪酸,它们可以
和填料结合,改善其流动
性。
2.导热■效篷
120 May2004_电子与电脑CompoTechwww.compotech.com.cn 万方数据
毗邻固体之间的接触热阻(contactresistance)Rc。
RTIM可以下式表示:
胁:黑他舢c2(2)}CHM 1。
其中BLT是热导材料的胶层厚度,kTIM是热导材料
的热导率,Rcl和Rc2是热导材料和两个毗邻表面的接
触热阻。RTIM,Rcl和Rc2均经过面积归一化(area—
normalized)(C—cm2/W)。
热导设计的目标之一是降低RTIM。这可以透过降
低胶层厚度(BLT),增加热导性和降低接触热阻Rc1
和Rc2实现。
某些研究[参考文献7,8]已建立了接触热阻的模型,
假设热导材料的运作类似于纯液体。但是因为导热膏本
质上是典型粘弹体,以纯液体为模型描述导热膏的接触
热阻是不够的。事实上,可以透过增加压力和毛细管
作用力促进表面润湿。
填充满热导材料的热导率可以用下面的函数表示:
‰=f(kt,km,中,Rn)(3)
图4.热导率是填料含量的函数
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其中kf是填料热导率,是填料体积分数,Rb是填
料和聚合物基体之间的接触热阻。文献中提到可以用几
种不同的
模型[参考文献9仂Ⅱ以分析。图4是填充有
机硅热导率的实验结果,它是填料(氧化铝)颗粒重
量分数的函数。高填充可提高热导率。
胶层厚度(BLT)
降低胶层厚度(BLT)通常也是散热设计的另一个
重要目标。因为较薄的胶层厚度可减小热阻。胶层厚
度是不同参数如操作压力(即:使两个接触表面在一
起所施加的压力)和颗粒体积分数的函数。Prasher等
人[参考文献9】开发了一个颗粒充满聚合物热导材料的胶
层厚度实验模型。他们提出胶层厚度具有下面的相关
性:
毗71=1.31.10。(∥66(4)
其中y是热导材料的屈服应力,P是施加压力,这
个相关性在25—200psi的操作压力范围内有效。由于
热导材料的屈服应力随着填料填充量增加而增加,因此
胶层厚度也随着体积分数增加而
增加。对热导材料的热阻而言,
填料填充存在两个竞争性效果:
在相同压力下,kTIM和胶层厚度
随着填料体积分数的增加而增
加,为了使RTIM最小化,填料
存在一个最佳填充值『参考文献
91。这个模型尚未考虑的是,颗
粒尺寸同样在实现较薄的胶层厚
度方面扮演着重要角色。较大的
填料颗粒可能成为隔离物,从而
www.compotech.com.cn电子与电脑CompoTech_2004May 121
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阻止热导材料的胶层厚度不能小于大填充颗粒的直径。
3.可甫H造性考虑:
材料需要可网版印刷(screenprintable)。典型的
折衷方案需要考虑下面这个问题:较高的填充和/或较
小的颗粒(以降低热阻)会增加材料粘度,从而影响
网版印刷能力(screenprintability)。接口的孔隙度
(degreeofvoidingattheinterface)对热性能也有显著
影响,因为孔隙即空气间隙,它会阻碍热传递,但是
对导热膏的网版印刷能力(screenprintability)和流变
学性质(rheologyprofile)尚未建立定量关系。虽然
可用溶剂降低导热膏粘度,但溶剂型导热膏的存放需要
采取特别措施(如冷藏),而多余的溶剂可在网版印
刷时蒸发。
4.可靠性考虑:
微处理器的封装设计需要确保其在正常使用条件下
使用七到十年。封装过程中需要解决应力问题(Packages
aresubjecttoarangeofstresssuites)以保证在使用期内
组件达到性能规格要求。在缺乏封装测试的情况下,可
以用一系列其它测试评估导热膏性能,如热失重分析
(TGA),85/85高加速应力试验(Hast)(85o c,85%相
对湿度老化)等。在TGA分析中,
观察测试材料在受控条件下,其重
量变化与温度(或时间)的函数关
系,主要用途是衡量材料的热稳定
性和成分。图5是导热膏在1200C
下24小时的TGA结果。在最初的
0.22wt%失重后,导热膏在测试条
件下保持稳定。0.22wt%失重可能
是因为填料带入的湿气所致。在最
初的失重后,导热膏不再失水,未
见失重。
高加速应力试验(Hast测试)是另一种可靠性测
试。表2显示了导热膏1000和1500小时的Hast测试结
果。这个结果显示导热膏性质稳定。
导热膏测试
1.热阻
目前尚无统一方法评估热导材料在所有CPU应用中
的效果,但可采用保护平板法(guardedhotplate
method)测定两块配合表面(twomatedsurfaces)之
问的热阻;其表达式如下:
。:等(5)×一POwerpJ
图6和7是这种工具的典型结构。
热阻及等效热导率(equivalent thermal
conductivity)可以用精密电热台(precjsionelectric
stage)在恒定载荷或在恒定膜厚度下测定;载荷可以
用加热轴(heatingaxis)上部的载荷传感器(10ad
cell)测定;膜厚度可以用数字式测微器(digital
micmmeter)测定加热和冷却轴之间的距离来确定(上
图5.导热膏的TGA结果
122 May2004●电子与电脑CompoTechwww.compotech.com.cn
万方数据
述距离还要减去预定的导热膏厚度和硅基体厚度
表2.导热膏的85/85Hast测试结果
可由置于每个加热和冷却轴上的五个热电偶测得
温度值来计算热阻。载荷、膜厚度和温度值可用数
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器(datalogger)和计算机系统进行处理。计算
机系统可以显示和保存温度、载荷、膜厚度、热阻及
等效热导率的测量和计算结果。用这台仪器测量热
阻和胶层厚度,其精度分别可达±0.03。C/W和±5
um。图8和9显示了热阻是胶层厚度和作用压力的
函数关系。图9同样表明,可通过降低胶层厚度进而
降低热阻,而无需增加填料体积分数。
图6.热分析仪器示意
运用这套装置,可以仿真实际组件在不同压力
和温度时的热阻。它同样可以用来测定热阻和胶层
厚度的函数关系。这也是对多种材料进行热性能筛
选和排序的典型方法。因为表面光洁度的敏感性
(sensitivitytosurfacefinish)、接口压力等原因,这个
筛选设定(screeningse£up)得到的实际数据可能和同
类封装材料在现场测得的性能结果不同。但是在材
料选择过程中,这是一个极为重要的快速转化工具
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2.导想■在动力循环田帕可靠
性
封装时以导热膏为芯片和散热器件之间的传导介
质,已知的故障原因(failuremechanism)主要是在
操作中导热膏部分抽空(pumpout)[8]。检测导热膏
可靠性的传统方法是动力循环测试(powercycletest)。
图10是一种导热膏的动力循环测试结果,采用的动
力循环是开启8分钟,关闭2分钟,这引起的温度周
期变化在20。C和92。C之间。在测试的16000次循
环中,导热膏表现稳定,这相当于在实际组件上可
图8.热阻与BLT(胶层厚度)的函数关系
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万方数据
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图9.热阻与作用压力的函数关系
使用若干年。
结论
随着对微处理器的性能要求越来越高,市场对硅芯片级功率
消耗的要求也愈来愈高,同时,还要求机壳更小、PC运行更安
静、硅晶体操作温度更低,这些需求共同构成了散热问题。在
现有散热解决方案中,导热膏在CPU应用中具有:本体热导率
图10.导热膏的动力循环
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高、胶层厚度薄,附着压力(attach
pressure)最小,再加工性 (reworkability)
好等优点。在导热膏开发中,主要考虑因素
有性能、可制造能力和可靠性。经过精心设
计,导热膏具有卓越的热性能、使用可靠、
可制造能力完善、可满足CPU应用越来越高
的要求。
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May2004-电子与电脑CompoTech、M^nⅣ_compotech.com.cn
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