光缆测试报告精编版

光缆测试报告精编版MQSsystemofficeroom[MQS16H-TTMS2A-MQSS8Q8-MQSH16898]MLC项目通信传输系统光缆测试报告北京建谊建筑工程有限公司2010年7月21日一、光缆测试说明通信系统说明MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLCo光纤使用说明1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤；3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，新敷设1根24芯光纤；4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；此次测试针对以上6部分进行。测试仪器采用信维牌0TDR（光时域反射仪），具体型号为S20。相关图纸《MLC项目通信系统光纤传输路由图》二、光缆测试内容光缆测试包括以下内容：光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）；3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减；具体说明如下：光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减：京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；三、测试目的序号测试内容测试目的合格备注1光缆熔接损耗检查光纤熔接质量每个熔接点损耗V光纤熔接规范2西直门8层MLC通信设备与京投大凰西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量<25dB通信设备对光衰减的要求3西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量<25dB通信设备对光衰减的要求4京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量<15dB通信设备对光衰减的要求四、光缆测试1、西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：8层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是□否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：8层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗8层熔接点损耗7层熔接点损耗每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是□否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口测试结论；通过□不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期：2、京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下:光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：151层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗］层熔接点损耗B1层熔接点损耗每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是□否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是□否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是□否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：151层通信配线同双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗1层熔接点损耗B1层熔接点损耗每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是□否口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期:在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼3层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：3层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗每个熔接点损耗V是□否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：3层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是□否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是□否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：3层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗1层熔接点损耗3层熔接点损耗每个熔接点损耗V是口否口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期:3、京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼7层通信配线间，对本项目敷设的4芯多模光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：7层通信配线问双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期:日期：多模光缆2测试结果如下:光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1层MLC机房测试地点：7层通信配线间双向测试取平均值是否合格1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗1层熔接点损耗7层熔接点损耗每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口每个熔接点损耗V是口否口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期:日期:4、西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：西直门8层MLC机房测试地点：京投大厦西辅楼1层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗＜25dB是□否口链路损耗V25dB是口否口链路损耗V25dB是口否口链路损耗＜25dB是口否口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期：西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点；西直门8层MLC机房测试地点：京投大厦东辅楼3层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗V25dB是口否口链路损耗V25dB是口否口链路损耗＜25dB是口否口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：西直门8层MLC机房测试地点：京投大厦东辅楼3层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗V25dB是口否口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期:京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通信设备，对本项目的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：京投大厦西辅楼1层MLC机房测试地点：京投大厦东辅楼3层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗V15dB是口否口链路损耗V15dB是口否口链路损耗V15dB是口否口链路损耗＜15dB是口否口测试结论：通过□不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期:日期：