位置变差

位置变差 位置变差 ● 准确度 √ “接近”真值或可接受的基准值 √ ASTM包括位置和宽度误差的影响 ● 偏倚 √ 测量的观测平均值和基准值之间的差异 √ 测量系统的系统误差分量 ● 稳定性 √ 偏倚随时间变化 √ 一个稳定的测量过程是关于位置的统计受控 √ 别名：漂移 ● 线性 √ 整个正常操作范围的偏倚改变 √ 整个操作规程范围的多个并且独立的偏倚误 差的相互关系 √ 测量系统的系统误差分量 宽度变差 ● 精密度2 √ 重复读数彼此之间的“接近度” √ 测量系统的随机误差分量 ● 重复性 √ 由一位评价人多次使用一种测量仪器，测量同 一零件的同一特性时获得的测量变差 √ 在固定和的测量条件下连续（短期）试验 变差 √ 通常指E．Ｖ．-设备变差 √ 仪器（量具）的能力或潜能 √ 系统内变差 ● 再现性 √ 由不同的评价人使用同一个量具，测量一个零 件的一个特性时产生的测量平均值的变差。 √ 对于产品和过程条件，可能是评价人、环境（时 间）或的误差 √ 通常指A．Ｖ- 评价人变差 √ 系统间（条件）变差 √ ASTM E456-96 包括重复性、实验室、环境及 评价人影响 ● GRR或量具R＆Ｒ √ 量具重复性和再现性；测量系统重复性和再现 性合成的评估 √ 测量系统能力；依据使用的方法，可能包括或 不包括时间影响 ● 测量系统能力 √ 测量系统变差的长期评估（长期控制图法） ● 灵敏度 √ 最小的输入产生可探测出的输出信号 √ 在测量特性变化时测量系统的响应 √ 由量具设计（分辨率）、固有质量（OEM）、使 用中的维修及仪器和标准的操作条件确定 √ 总是以一个测量单位 ● 一致性 √ 重复性随时间的变化程度 √ 一个一致的测量过程是考虑到宽度（变异性） 下的统计受控 ● 均一性 √ 整个正常操作范围重复性的变化程度 √ 重复性的一致 一、计量型测量系统的研究： 1、确定偏倚：独立样件法、控制图法 2、确定重复性和再现性：极差法、平均值与极差法、结果分析—数值法、方差分析法 二、计数型测量系统的研究： 1、分析法、风险分析法 2、