GBT10233-2005 低压成套开关设备和电控设备 基本试验方法

ICS 29.120.50 一 二一 ‘3’ 伪日 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T 10233-2005 代替GB/T 10233-1988 低压成套开关设备和电控设备 基 本 试 验 方 法 Basic testing method for low-voltage switchgear and controlgear assemblies 2005-02-06发布 2005-08-01实施 率馨撇臀裂瞻臀 R臀赞 发布 GB/T 10233-2005 ml1 胃 本标准是对GB 9466-1988《低压成套开关设备基本试验方法》及GB/T 10233-1988《电气传动控 制设备基本试验方法》的修订。 本标准与GB/T 10233-1988相比主要变化如下： — 标准主要依据GB 7251. 1《低压成套开关设备和控制设备 第1部分：型式试验和部分型式试 验成套设备》和GB/T 3797-2005《电控设备》标准。 本标准的附录A、附录C、附录D为资料性附录，附录B为规范性附录。 本标准自实施之日起，GB/T 10233--1988《电气传动控制设备基本试验方法》废止。 本标准由中国电器工业协会提出。 本标准由全国低压成套开关设备和控制设备标准化技术委员会归口。 本标准主要起草单位：天津电气传动研究所、国家电控配电设备质量监督检验中心、天水电气 传动研究所、广州白云电器设备厂、裕德电气（厦门）有限公司、广州南方电力集团电器有限公司。 本标准主要起草人：陈雪梅、刘淑敏、俞秀文、刘辉、刘霞、龙静、邹一、齐赫男、张春香、李慧英、 张建成、蒋小波、刘志崇。 标准下载网(www.bzxzw.com) GB/T 10233-2005 低压成套开关设备和电控设备 基 本 试 验 方 法 1 范围 本标准规定了低压成套开关设备和电控设备（以下简称设备）的型式试验和出厂试验的基本方法。 本标准适用于GB 7251. 1--2005和GB/T 3797---2005所规定的试验项目。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的所 有修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB 4208 外壳防护等级 GB 7251. 1-2005 低压成套开关设备和控制设备 第 1部分：型式试验和部分型式试验成套设 备（idt IEC 60439-1：1999) GB/T 12501 电工电子设备防触电保护分类 GB 14048. 3-2002 低压开关设备和控制设备 第3部分：开关、隔离器、隔离开关及熔断器组合 电器（IEC 60947-3 :2001, IDT) GB 14048. 4-2003 低压开关设备和控制设备 机电式接触器和电动机起动器（IEC 60947-4-1: 2000，IDT) GB/T 16935. 1-1997 低压系统内设备的绝缘配合 第一部分：原理、要求和试验（idt IEC 60664-1：1992) GB/T 17626. 4-1998 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验< idt IEC 61000-4-4：1995） GB/T 17626. 5-1999 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验}1 000卞m9MRa['h*,)Fl- /v5001 0002 500川 GB/T 10233-2005 4.6.2 试验程序 4.6.2.1 对不能承受绝缘电压试验的元件，消耗电流的器件（如：线圈、测量仪器），在施加试验电压前 应将其拆除或短接。 4.6.2.2 试验电压施加部位及时间见4. 5. 3. 3. 4.6.3 试验结果 所测得的的绝缘电阻按标称电压至少为1 000 a/ v，则认为试验通过。 4.7 短路耐受强度验证 4.7. 1 可免除此项验证的成套设备的电路 以下情况不要求进行短路耐受强度验证： 4.7.1.1 额定短时耐受电流或额定限制短路电流不超过 10 kA的成套设备。 4.7. 1.2 采用限流器件保护的成套设备，该器件在最大允许预期短路电流（在成套设备的进线电路端） 时的截断电流不超过17 kAo 4.7. 1.3 与变压器相连接的成套设备中的辅助电路，该变压器二次额定电压不小于110 V时，其额定 容量不超过10 kVA。或二次额定电压小于110 V时，其额定容量不超过1. 6 kVA，而且其短路阻抗不 小于4%. 4.7. 1.4 设备的所有部件（母排、母线支架、母排接头、进线和出线单元、开关器件等）已经过适合成套 设备工作条件的型式试验。 注：开关器件为例，符合GB 14048. 3具有额定限制短路电流的开关装置或符合GB 14048. 4具有短路保护器件的 电机起动类装置。 4.7.2 短路耐受强度试验程序 4.7.2. 1 试验安排 成套设备及其部件应象正常使用时一样安置。除了在母线上的试验和取决于成套设备结构形式的 试验以外，如果各功能单元结构相同，而且不影响试验结果就只需试验一个功能单元。 4.7.2.2 试验的实施：总则 如果试验电路中包含有熔断器，应采用最大电流额定值（对应于额定电流）的熔芯，如果需要，应使 用制造厂规定的熔断器。 试验设备时所要求的电源线和短路连接导线应有足够的强度以耐受短路，它们的排列不应造成任 何附加的应力。 如果没有其他规定，试验电路应接到成套设备的输人端上，三相设备应按三相连接。 对于所有短路耐受额定值的验证在电源电压为1.05倍额定工作电压时，预期短路电流值应由标准 示波图来确定，该示波图在向成套设备供电的导体上取得，该导体位于尽可能靠近成套设备的输人电源 侧，并将成套设备用可忽略阻抗的导体进行短路。示波图应显示一个恒定电流，该电流可在某一时间内 测得（即该时间等于成套设备内保护器件的动作时间）或在一规定时间内测得，该电流值近似于4. 7. 2.4 规定的值。 用交流进行短路试验时，试验电路的频率允许偏差为额定频率的25％. 在工作中与保护导体连接的设备的所有部件，包括外壳，应进行如下连接： a） 对于适用于有一个中性点接地的三相四线系统，并带有相应标志的成套设备，可接在电源中性 点上或接在允许预期故障电流至少为1 500 A的带电感的人为中性点上。 b> 对于相对地产生电弧的可能性很小的带有相应标志的三相三线设备与三相四线制一样连接。 注：标志和符号的表示方法还在考虑中。 除用完全绝缘进行防护的设备（即第n类设备）外，试验电路应包括一个安全装置（如一个由直径为 0. 8 mm，长度不超过50 mm的铜丝作熔芯的熔断器）用以检测故障电流。除了下面注2和注 3所说 的，在此可熔断元件的电路中，预期故障电流为1 500 A士1000。必要时，用一个电阻器把电流限制在 GB/T 10233-2005 该值上。 注1：一根0. 8 mm直径的铜丝，在1 500 A下，大约经过半个周波就熔断，电源频率在45 Hz到67 H：之间（对于 直流，熔断时间为0. 01 s) o 注2：按照有关产品的标准的要求，小型设备的预期故障电流可能小于 1 500 A，可选用熔断时间与注1相同的直 径较小的铜丝（见注4). 注3：在电源具有一个人为的中性点时，预期故障电流可能比较低，按照制造厂的意见，可选用熔断时间与注1相 同的直径较小的铜丝（见注4). 注4：在可熔断电路中预期故障电流和铜丝直径之间的关系见表11, 表 11 预期故障电流与铜丝直径的关系 一讨 501503005008001 500 4.7.2.3 主电路试验 4.7.2.3. 1 对于带母排的成套设备，按照下面4. 7. 2. 3. 1, 4. 7. 2. 3. 2和4. 7. 2. 3. 4项进行试验。 对于不带母排的成套设备，按照下面4. 7. 2. 3. 1项进行试验。 对于不满足在框架单元内部，主母线和功能单元电源侧及包括在该单元之内的电器元件之间的连 接导体（包括配电母线）只要布置得在正常工作条件下，相与相之间、相与地之间发生内部短路的可能性 很小，该连接导体可以根据每个单元内相关短路电器负载侧的衰减后的短路强度来确定（见GB 7251- 2005)。这种导体最好是坚硬的固体刚性制品。未按正常工作条件布置的试验要求的成套设备，另外还 要按照4. 7.2. 3.3项进行试验。 4.7.2.3.2 如果出线电路中有一个事先没经过试验的元件，则应进行如下试验： 为了试验出线电路，其出线端子应用螺栓进行短路连接。当出线电路中的保护器件是一个断路器 时，试验电路可包括一个分流电阻器与电抗器并联来调整短路电流。 对于额定电流最高到并包括630 A的断路器，在试验电路中，应有一根0. 75 m长，截面积相应于 约定发热电流的电缆（见附录D)。开关应合闸，并像正常使用那样在合闸位置上。然后施加试验电压， 并维持足够长的时间，使出线单元的短路保护器件动作以消除故障，并且在任何情况下、，试验电压持续 时间不得少于10个周波。 4.7.2-3.3 带有主母排的成套设备应进行一次补充的试验，以考验主母排和进线电路包括接点的短路 耐受强度。短路点离电源的最近点应是2 m士0. 40 m。对于额定短时耐受电流和额定峰值耐受电流验 证，如果在低压下进行试验才能使试验电流为额定值时，此距离可增大。当成套设备的被试验母排长度 小于1. 6 m，而且，成套设备不再扩展时，应对整条母排进行试验，短路点应在这些母排的末端。如果一 组母排由不同的母排段构成（诸如截面积不同，相邻母排之间的距离不同，母排形式及每米母排上支撑 件的数量不同），则每一段母排应分别或同时进行试验，该试验亦应满足上面所提的条件。 4.7.2.3.4 在将母排接到单独的出线单元的导体中，用螺栓连接实现短路时，短路点应尽量靠近出线 单元母排侧的端子。短路电流值应与主母排相同。 4.7.2.3.5 如果存在中性母排，应进行一次试验以考验其相对于最近的母排（包括任何接点）的短路耐 受强度。4. 7. 2. 3. 2的要求适用于中性母排与该相母排的连接。制造厂与用户之间如无其他协议，中 性母排试验的电流值应为三相试验时相电流的600oa GB/T 10233-2005 4.7.2.4 短路电流值及其持续时间 a） 用短路保护器件保护的成套设备，无论保护器件是在进线单元或是其他地方，试验电压的施加 时间应足够长，以确保短路保护器件动作，清除故障，并且在任何情况下，不应少于10个周 期波。 b) 进线单元中不带有短路保护器的成套设备（见GB 7251. 1-2005中7.5.2.1.2)0 应在指定保护器件的电源侧，用预期电流对于所有短路耐受额定值进行动应力和热应力验 证。如果制造厂给出了额定短时耐受电流、额定峰值耐受电流、额定限制短路电流或额定熔 断短路电流的值，则该预期电流应与制造厂给出的值相等。 当试验站很难用最大工作电压进行短时耐受试验或峰值耐受试验时，可根据 4. 7. 2. 3. 2, 4. 7. 2. 3. 3和4. 7. 2.3.4在任何合适的低压下进行试验。在这种情况下，实际试验电流等于额定短时耐 受电流或峰值耐受电流。这些应在试验

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中说明。然而，在试验期间，如果出现保护装置发生瞬时触 点分离，则应用最大工作电压重新进行试验。 在短时和峰值耐受试验时，如果有任何过载脱扣装置在试验时发生脱扣动作，则试验无效。 所有的试验应在设备的额定频率（容许偏差士25％）及适于表12规定的短路电流对应的功率因数 下进行。 标定电流值应是所有相中交流分量的平均有效值。当以最大工作电压进行试验时，标定电流是实 际试验电流。在每相中电流偏差在十5％至。％之内，功率因数偏差＋0.。至一。. 05之内。在施加电流 的规定时间内其交流分量的有效值应保持不变。 注1：由于试验条件的限制，如果需要的话，允许采用不同的试验周期，在此情况下，试验电流建议根据公式 12 t= 常数进行修正，但如无制造厂的同意，峰值不得超过额定峰值耐受电流，而且短时耐受电流有效值至少有一 相在电流起始后的 。.1。不得小于额定值。 注2:短时耐受电流和峰值耐受电流试验允许分别进行。在此情况下，峰值耐受电流试验时施加短路的时间，建议 不使 12t值大于短时耐受电流试验的相应值，但它不应小于3个周波。 对于限制和熔断短路电流试验，在规定保护器件的电源侧，试验应以1. 05倍额定工作电压（见 4. 7. 2. 2 )及预期电流进行，预期电流值等于额定限制或熔断短路电流值。试验不允许以低电压进行。 4.7.2.5 试验结果 试验后，导线不应有任何过大的变形，只要电气间隙和爬电距离仍符合规定，母排的微小变形是允 许的。同时，导线的绝缘和绝缘支撑部件不应有任何明显的损伤痕迹，也就是说，绝缘物的主要性能仍 保证设备的机械性能和电器性能满足本标准的要求。 检测器件不应指示出有故障电流发生。 导线的连接部件不应松动。 在不影响防护等级，电气间隙不减小到小于规定数值的条件下，外壳的变形是允许的。 母排电路或成套设备框架的任何变形影响了抽出式部件或可移式部件的正常插人的情况，应视为 故障。 在有疑问的情况下，应检查成套设备的内装元件的状况是否符合有关规定。 4.7.2.6 对于通过部分型式试验的成套设备（YTTA）应按下述要求之一验证其短路耐受强度： 一一根据4. 7. 2. 1至4. 7.2. 5进行试验； — 根据来自类似的通过型式试验安排的外推法。 注1：从通过型式试验安排进行外推的实例可见IEC 611170 注2:注意比较导体强度、带电部件与裸露导电部件之间的距离，支撑框架之间的距离，支撑框架的高度和强度以 及安装结构的支撑框架的类型和强度。 4.7.3 有关短路耐受强度的资料 4.7.3. 1 对于仅有一个进线单元的成套设备，制造厂应指出如下短路耐受强度： GB/T 10233-2005 4.7.3.1.1 对于进线单元具有短路保护装置（SCPD）的成套设备，在进线单元的接线端子上应标明预 期短路电流的最大允许值。这个值不应超过相应的额定值。相应的功率因数和峰值应为4. 7. 3. 4中给 出的数据。 如果短路保护装置是一个熔断器或是一个限流断路器，制造厂家应指明SCPD的特性（电流额定 值、分断能力、截断电流、IZt等）。 如果使用带延时脱扣的断路器，制造厂家应标明最大延时时间和相应于指定的预期短路电流的电 流整定值。 4.7.3.1.2 对于进线单元没有短路保护的成套设备，制造厂应用下述一种或几种方法标明短路耐受 强度 ： a) 额定短时耐受电流及相关的时间（如果不是1 s)，额定峰值耐受电流。 注：当最长时间不超过3s时，额定短时耐受电流和相关的时间的关系用下面的公式表示 1, t＝常数，但峰值不超 过额定峰值耐受电流。 b) 额定限制短路电流。 c) 额定熔断短路电流。 对于b)和c)，制造厂家应说明用于保护成套设备所需要的短路保护装置的特性（额定电流、分断能 力、截断电流、IZFt等）。 注：当需要更换熔芯时，建议采用具有相同特性的熔芯。 4.7.3.2 具有几个不大可能同时工作的进线单元的成套设备，其短路电流耐受强度可根据4.7.3.1在 每个进线单元上标出。 4.7.3.3 对于具有几个可能同时工作的进线单元的成套设备，以及有一个进线单元和一个或几个用于 可能增大短路电流的大功率电机的出线单元的成套设备，应制定一个专门的协议以确定每个进线单元、 出线单元和母线中的预期短路电流值。 4.7.3.4 耐受电流峰值与短路耐受电流之间的关系 为确定电动力的强度，耐受电流的峰值应用短路耐受电流乘系数n获得。系数n的标准值和相应 的功率因数在表12中给出。 表 12 系数n的标准值 二一六刃 4.8 电气性能试验 4.8. 1 电压均衡度测量 测量电压均衡度的目的是为了检查受试设备中晶闸管或整流管串联连接（一个臂共有两个以上） 时，其瞬态和稳态的电压均衡度是否符合产品技术条件的规定。 4.8. 1. 1测量仪表：示波器，峰值电压表，存储示波器，智能化仪表等； 4.8. 1.2 测量方法：直接测量晶闸管或整流管器件上的正、反向电压； 4.8. 1.3 测量程序：调整输人电压等于额定值，负载电流等于规定的满足试验要求的最小值，测量器件 GB/T 10233-2005 的正、反向电压 ； 4.8.1.4 电压均衡度计算： 艺 U; K..＝ 止型二＝ n、·Uim 式中： K}— 电压均衡度； z U,— 一个支路中各器件承受的峰值电压的总和，单位为伏（V); U,.,— 一该支路器件中分担最大电压份额的器件所承受的峰值电压，单位为伏（V); n，一一一个支路中串联器件数。 4.8.2 电流均衡度测f 测量电流均衡度的目的是为了检查受试设备中并联连接的晶闸管或整流管的瞬态和稳态的电流均 衡度是否符合产品技术条件的规定。 4.8.2.1 测量仪表：示波器，毫伏表，钳式电流表； 4.8.2.2 测量方法：直接测量晶闸管或整流管器件电流或支路内（熔断器）的电阻或标准母线上的电 压降； 4.8.2.3 测量程序：调整受试设备电流不低于80％的额定值，用同一仪表测量每一支路上的电流； 4.8.2.4 电流均衡度计算： 艺 1; K ＝ 一三 np·Ii. 式中： Ki— 电流均衡度； 艺1— 流过各并联支路电流平均值的总和，单位为安（A); Ii.— 并联器件中分担最大电流份额的元件所承担的电流，单位为安（A); np— 并联的器件数。 4.8.3 输出电压不对称度 在所规定的电源与各相负载对称情况下，同时测量设备的输出三相电压，计算设备的不对称度应不 超过产品技术条件的规定。 4.8.4 负载试验 4.8.4.1 轻载试验 负载要能为系统提供运行条件（也可以采用空载试验，设备输出可开路），证明系统的功能是正常。 可在设备的输出端接人一个适当的阻抗负载，使设备输出一个能保证其正常工作的最小电流。 4.8.4.2 负载及过载能力试验 负载试验是为了检验设备是否在规定的负载等级和负载类型下正常运行。 试验应在内部接线检查、功能调试后进行。 试验时所有条件不应低于额定条件，试验可以使用等效负载或实际负载。 过载能力试验是负载试验的一部分，应结合在一起进行。 设备中的保护器件按产品技术条件中所允许的最大值整定。设备输出端接人一个可调节的负载 （容量大于设备的输出容量）；设备主回路输人端直接接人电源，调整有关参数按设备技术要求所规定的 时间间隔、电流大小投人运行，记录试验时的电压、电流和时间。若试验作为型式试验在试验室内进行， 其试验电流值与某一特定的工作等级（负载等级）相对应。标准工作制等级见表130 GB/T 10233-2005 表 13 标准工作制等级 二寻 4.8.5 保护系统的检验 试验应使设备尽可能在避免受到超过其额定值冲击的条件下进行。 4.8.5. 1 过电流保护检验 4.8.5. 1. 1 直流侧短路保护检验 在直流侧做人为短路，检验快速熔断器和快速开关等保护器件是否正确动作。 4.8.5. 1.2 交流侧短路保护检验 在交流侧做人为短路，检验交流侧保护器件是否正确动作。 4.8.5.2 断相及欠压保护试验 当电源侧三相中任一相断相或欠电压，应能对设备进行有效保护，并发出相应的报警指示信号。 4.8.6 功率因数的测定 应在规定的负载条件下测量设备总的功率因数。功率因数的测量可以用直接测量法，也可以使用 测量计算法。功率因数表的精度不应低于0.5级。 4.8.7 效率的测定 应在额定电压、额定电流和规定的负载功率因数下，测量设备的输入功率和输出功率。 4.8.8 谐波含It的测试 4.8.8. 1 谐波电压（或电流）测量应在装置空载和满载的情况下分别测量。 4.8.8.2 当设备中安装电容器组时应在电容器组的各种运行方式下进行测量。 4.8.8.3 测量谐波的次数一般为测量2-19次的谐波或按产品技术条件的规定。 4.8.8.4 对于负荷变化快的谐波源（例如晶闸管变流设备等）测量的时间不大于2 min,测量次数不少 于30次。对于负荷变化慢的谐波源，可选5个接近的数值，取其算术平均值。 4.8.8.5 谐波测量的数据应取测量时段内各相实测值的95%概率值中最大的一相值，作为谐波是否 超过允许值的依据。但对于负荷变化慢的谐波源，可选5个接近的数值，取其算术平均值。 注：实测值的95%概率值可按下述方法近似选取，将实测值按由大到小次序排列，舍弃前面的5％的大值，取剩余 GB/T 10233-2005 值中的最大值。 电压总谐波畸变率TH“一（丫息Uh2/U,）X 100% 式中： U卜— 第h次谐波电压（方均根值）； U,— 基波电压（方均根值）。 电流总‘皆波畸变率THD,一（报而1一）x‘。。％ 式中： Ih— 第h次谐波电流（方均根值）； I,— 基波电流（方均根值）。 4.8.9 纹波的测定 直流设备的纹波系数测量使用0. 5级电压表，测出直流电压分量和交流电压分量。 设备的纹波系数＝（交流分量有效值／直流电压）X100％ 4.8. 10 额定电流试验（低压大电流试验） 进行该试验是为了检验设备能否在额定电流下正常运行。额定电流试验可以与均流试验、温升试 验和负载试验结合进行。 试验时把直流端子直接或通过电抗器短路，设备的交流端子连接应能满足产生额定连续直流电流 的交流电压，试验过程中、控制设备（如有）和辅助设备须单独用额定电压供电。适当协调控制（如有）和 施加交流电压，使额定电流流过直流端子。 当进行负载试验时，本试验可不必重复进行。 4.9 温升试验 4.9．1 总则 4.9. 1. 1 温升试验是验证设备中各部件的温升极限是否超过设备技术条件的规定，试验结果应符合 表14、表15的规定。 4.9. 1.2 一般应按4. 9. 2. 6规定的额定电流值进行温升试验。 4.9. 1.3 试验也可用功率损耗等效的加热电阻器来进行。 对于某些主电路和辅助电路额定电流比较小的封闭式成套设备，其功率损耗可使用能产生相同热 量的加热电阻器来模拟，该电阻器安装在设备内适当的位置上。 连到电阻器上的引线截面不应导致显著的热量传出外壳。 加热电阻器试验，对外壳相同的所有成套设备应具有充分的代表性，尽管外壳内装有不同的电器元 件，但只要考虑分散系数后，其内装元件的总功率损耗不超过试验中施加的功率损耗值即可。 内装的电器元件的温升不得超过规定值。该温升也可采用在测量出该电器元件在大气中的温升 后，再加上外壳内部与外部的温差的方法求得近似值。 4.9.1.4 只有在采取适合的措施使试验具有代表性的情况下允许对成套设备的单独部件（板、箱、外壳 等）进行试验（见4.9.2.1)。 在各单独电路上进行温升试验，应采用设计所规定的电流类型和频率。所用的试验电压应使流过 电路的电流等于4.9.2.6所规定的电流值。应对继电器、接触器、脱扣器等的线圈施加额定电压。 4.9. 1.5 对于开启式成套设备，如果其单个部件上的型式试验、导体的尺寸以及电器元件的布局明显 不会出现过高的温升，也不会对成套设备相连接的设备及相邻的绝缘材料部件造成损害，则不需进行温 升试验。 4.9. 1.6 环境条件 GB/T 10233-2005 4.9.1.6.1为防止空气流动和辐射对温升测量的影响，设备应在正常的通风和散热条件下使用。 4.9. 1.6.2 在满足标准的温升的前提下，试验房间应有一定的容积。 4.9. 1.6.3 周围的空气温度应在＋10℃一十40℃之间。 4.9.2 试验程序 4.9.2. 1 设备的放置 设备应如同正常使用时一样放置，所有覆板都应就位。 试验单个部件或结构部件时，与其邻接的部件或结构单元应产生与正常使用时一样的温度条件。 此时，可以使用电阻加热器。 4.9.2.2 在进行温升试验前，应先进行通电操作试验。然后对温升试验的回路通以额定电流（为缩短 试验时间，只要设备允许，开始试验时可加大电流，电流提高的数值一般不超过额定电流的1. 25倍，然 后再降到规定的额定电流值）。这个电流可以由设备本身产生，也可由外部低压电源来供给。 4.9.2.3 周围空气温度，应在试验周期的四分之一的时间内测量，测量时至少用两支温度计或热电偶， 均匀地布置在设备的周围 （高度为设备的二分之一，距设备外壳 1 m)o测量后取各测量点读数的平 均值。 4.9.2.4 试验应在产生最高温升的设备及部位上进行，以及在最不利冷却的条件下进行。 4.9.2.5 温升测量点应尽可能在规定点测量。对于设备中的半导体器件，应测量若干个器件，其中包 括冷却条件最差的部件。 4.9.2.6 在所有电器元件上通以电流进行温升试验 试验应在一个或多个有代表性的组合电路上进行，这些电路体现了该成套设备的主要用途，所选择 的电路应能足够准确地得到尽可能的最高温升。 对于这种试验，进线电路通以其额定电流，每条出线电路通过的电流乘以额定分散系数。如果成套 设备中包含有熔断器，试验时应按制造厂的规定配备熔芯。试验所用熔芯的功率损耗应载人试验报 告中。 4.9.2.7 在缺少外接导体和使用条件的详细资料时，外接试验导体的