行业制造-标准-微波介质材料+A—陶瓷

SJ中华人民共和国电子工业行业sJ/T10243.10246-91微波陶瓷介质材料1991-05-28发布1991一12-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准微波介质材料A一陶瓷sl/T10246-91DielectricmaterialsformicrowaveA一Ceramic1主口内容与适用范围本标准规定了高介电常数、低损耗、小温度系数微波介质材料的分类、技术要求和试验方法、检验规则、包装、贮存和运输本标准适用于“微波介质材料A-陶瓷”(以下简称介质材料)。引用标准GB7265.2固体电介质材料复介电常数的测试方法“开式腔”法GB2413压电陶瓷材料体积密度测量方法GB5593电子元器件结构陶瓷材料GB5594.3电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法分类3.飞分类标志如下所示:A-x一x一x丁下丁工一一--级别}}一类型!一介电常数‘一一一一一一一一~一-高介电常数、低损耗、小温度系数微波介质陶瓷材料介质材料的类型、级别、适用频段及用途列于表to中华人民共和国机械电子工业部1991-05-28批准1991一12-01实施SJ/T10246-91分类适用频段介质损耗角正切值介电常数频率温度系数类型用途标志90GHztansX10-eT‘A4111成2.0(2-10)士1振荡器和四钦酸钡陶瓷一38^40滤波器等Ba'ti,0,A4122(mdiAft4*)(2.5(2--10)士3微波器件!A421I<2.5(一10^-10)士1振荡器.滤钦酸桔锡陶瓷36^41波器、延迟"1'iO,-ZrO,-SnO,A422一2}mgi4黔10)<3.0(一10-10)士3线等器件A81110.5-3.0<4.8(一10-10)士I振荡器.滤BaO-R20,-TiO,75--80波器等A8122{测试3簇6.0(一10-10)士34技术要求和试验方法4.1基本性能不同类型的介质材料的基本性能和试验方法列于表2e4.2微波介电性能4.2.1要求不同类型的介质材料的微波性能应符合表1的规定。4.2.2试验方法4.2-2-1按GB7265.2规定的试验方法测量介质损耗角正切值。4.2.2.2按GB7265.2规定的试验方法测量介电常数4.2.2.3按附录A规定的试验方法测量频率温度系数。表2{}极限值项目A41A81试验方法B.Ti,O,BaO-R,O,-TiO,异4.4X10'B2413镇0.艺0蕊0.08B2413线膨胀系数1X10-`mm/'C(7.8--8.8<5.6~G.6<8.5-9.5GB5594.3抗弯强度}150--190400-470600-670口B5593第3.5条5检验规则515.2生产单位应按表1和表2的规定进行例行检验，例行检验每年不得少于一次。5.3生产单位应按表1进行交收检验。检验所用试样的要求、形状、尺寸及数量按有关试验方法的规定。t3一SJ/T10246一915.4试验中，若所有试祥的指标均符合本标准的规定，则该材料合格试验中即使有一个试样不符合本标准中任一项要求时，则应以同一批材料制成的两倍数量的试样，对不合格的项目进行复验，如复验仍不合格.则该材料不合格6标志、包装、贮存和运输产0产品标志应包括制造厂名、产品名称、分类标志、制造日期等.‘八U产品装人闭封的容器内。容器上应有产品标志产品存放在清洁、干燥、通风的库房中。可采用任意一种运输方式运输，运输中应防止受潮。SJ/T10246-91附录A绷率沮度系擞的试验方法(补充件)A1侧试原理采用反射功率法系统，其示愈图如下所示:卿月瑞碑数宇倾率计II植波器厂一一二r一一刁扫孩1温径箱.I扫顺仪隔离器日衰减器曰定向韧合器同定向藕合器试样测试架IL一一一一一一一一一‘一一JI点颇匕______」图A1侧试系统示意图A2侧试步.将被测试样制成回柱形，其直径与高之比为。.3-0.6，按图1所示，将试样测试架置于温控箱中，使谐振器处于谐振状态，同时从示波器上找出谐振峰。从数宇颐率计上读出谐振频率f及侧试时的温度TAR沮度从一20℃到“℃，每隔10'C测试一组数据，在每一个测试m度下，恒沮45min以上。按下式计算预率温度系数r,几一f,Af=几r.气下石..............................人飞1少f,(T:一Ti)7;ai式中rf频率沮度系数,10-0/'C;人—介质谐振器的谐振频率,MHz;△了.-沮度变化△T时，所引起的谐振颇率的变化，MHz.附加说明:本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由上海科学技术大学和机械电子工业部电子标准化研究所负贵起草。本标准主要起草人:胡昂、王玉功。