以
面电荷状态和结构的可逆变化表征VO2(R)单晶纳米棒溶液的相变过程
以表面电荷状态和结构的可逆变化表征
VO2(R)单晶纳米棒溶液的相变过程
74中国印刷与包装研究2011年第5期(第3卷)
置存在较大差异,提前预测设备技术参数对印品质量的
影响将产生很大的经济影响.同样的,对于可选择的材
料和设备,终端产品的质量好坏是影响客户抉择的关键
因素,那么毋庸置疑需要创建专家诊断系统.该系统不
仅能找出影响质量的因素,还能
各个质量参数间的
相互关系,从而为印刷过程优化提供宝贵意见.
(胡媛编译)
PhaseTransitionofSingleCrystalVo2(R)NanorodsinSolutionRevealed
byReversibleChangeinSurfaceChargeStateandStructure
AuthorJIShidong.ZHANGFeng.JINPing.一
1DepartmentofScientificandEngineeringSimulation,NagoyaInstituteofTechnology,Gokiso—Cho,
Showa—ku,Nagoya
466—8555,Japan
2NationalInstituteofAdvancedIndustrialScience&Technology(AIST),Shimoshidami,Moriyama—ku,Nagoya463—
8560.Japan
3ShanghaiInstituteofCeramics,CAS,DingxiRoad1295,Shanghai,China
AbstractTheVO2singlecrystalnanorodsweresynthesizedbyhydrothermalmethodandinvestigatedbyXRD,SEM,SPM
andTEM.PhasetransitionrevealedbyareversiblesurfacechargetransferforVO2nanorodsduringheating—coolingcirclein
solutionwasobservedbyzetapotentialmeasurement.ThemonoclinicVO2nanorodswerenegativelychargedbecausetheex—
posedcrystalsurfaceplanesaremostlycomposedofoxygenatomsasobtainedbystructuresimulation,whilethecorrespond—
ingcrystalplaneschangetOamostlypositivelychargedstateinVO2(R)duringphasetransitionsincetheexposedplanes
changeintoV—atomdominatedones.Thestudyprovidedanovelmethodtocharacterizethephasetransitioninsolutionfor
VO2nanocrystals,andthephenomenonmayhaveimportantpotentialapplications.
KeywordsSinglecrystalVO2(R)nanorod;Phasetransition;Surfacecharge;Surfacestructure;Zetapotential
FromMaterialsLetters,2011,65(4):708—711.
以表面电荷状态和结构的可逆变化表征VO2(R)单晶纳米棒
溶液的相变过程
摘译二氧化钒(VO:)是一个传统的具有不同晶型的
?元化合物.由于金红石结构的VO:最为稳定,且在
340K附近具有半导体一金属相变(SMT)特性,因此引
起人们的广泛关注.在340K时,该材料由单斜结构转
变为四方结构,实现从半导体相到金属相的转变.此
外,该转变温度(r,)也可通过掺杂钨元素降低至室
温.这种特性使VO有望成为一种节能的”智能窗”功
能材料,广泛应用于莫特场效应晶体管和光电开关装
置.SMT的特性可以理解为品格的扭曲可消除能带简并
性,从而使电子相关能形成完美的窄带.许多研究人员
主要研究与SMT相关的电,磁和光学特性的可逆突变.
本文通过测量水介质中纳米棒电位变化,观察与VO纳
米棒的半导体一金属相变相关的表面电荷的可逆变化.
TEM结果的模拟也显示存在类似可逆变化.
摘译75
1.实验部分
在早期的文献中,研究人员采用Hs04作为形貌调节
剂直接合成VO:(R)纳米棒;采用水热法,以VO(和
光纯药工业株式会社,日本)为V源,草酸(HC:O?
2H:0,和光纯药工业株式会社,日本)为还原剂合成
VO(R)纳米棒.
实验步骤如下:室温下,将适量的V:O和草酸固体
粉末以1:(1-3)摩尔比加入200m]去离子水中,持续
搅拌直至溶液呈清澈的深蓝色;加入Hs0溶液(0.5
M,和光纯药工业株式会社,日本)将溶液pH值调至
1.85;将10rnl配好的溶液置入不锈钢外壳的反应釜中进
行水热处理,260~C下处理8h;水热处理后,反应釜自
然冷却至室温.通过过滤收集生成的黑色沉淀物,然后
用去离子水,丙酮,酒精反复清洗,最后在60~C烘干机
下干燥10h.以x射线光电子能谱(XPS)检测合成的
VO(R)纳米棒,结果显示除钒和氧原子,并无其他
杂质.
实验产物测试:采用飞利浦X’Pert衍射仪(XRD)
进行x射线衍射分析,扫描速度2o/min,扫描角度10.,
70.,石墨单色CuK辐射(=0.154056nm);以场发
射扫描电镜(FE—SEM,日本HITACHIS-3400型,加速
电压10kV)和透射电子显微镜(TEM,日本JEOLJEM一
2010型,加速电压200kV)观测合成粒子的形貌;以连
接JEM-2010的选区电子衍射仪表征晶体形态;以扫描
探针显微镜(SPM-9600型,日本岛津)观测表面形貌和
电荷电位分布;由差示扫描量热仪(DSC120型,日本
SEIKO)测得相变温度及其滞后特性,其加热和冷却速率
均为2?/rain,配有液氮冷却系统;以Zeta电位分析
仪(英国马尔文仪器有限公司,配有半导体温控模
块)测试纳米棒在不同温度下的电位变化.上述所有
测试都采用一次性电位电池(DTS1060型)和高纯度
水系统.
2.结果与讨论
图1为水热法合成的单晶纳米棒XRD图谱.由图1
可以看出,所有峰归因于单斜相VO(JCPDS72—
0514)和低温相VO(R).衍射峰狭窄,尖锐,强度
大,表明由均匀分散的单晶组成的纳米棒具有良好的结
晶性.也说明在V:O一H:C:O?2HO体系中,Hs0
是一种有效的VO形貌调节剂.图2a是VO纳米棒扫描
电镜图像,图2b是单晶纳米棒的TEM图像,其中插图
为SAED图,表明单品沿【001】方向生长.通过对
SAED图中的衍射斑进行分析可以得到结晶特征.VO:
(M)纳米棒垂直横向晶面分别为(120)(320)和(120)
(120).G.Andersson研究表明水热法合成的VO纳米棒
沿[100】方向生长,该生长方向与高温熔融法单晶生长方
向一致.
l0203O4050607O
2e.
图1VO.(R)纳米棒的XRD图谱
Fig.1XRDpatternoftheVO2(R)nanorods
a.SEM图
b.TEM图和SAED图
图2VO2纳米棒扫描电镜图,TEM图像和SAED图像
Fig.2SEMimageoftheobtainedVO2nanornds,TEM
hingeandSAEIBpattern(inset)revealingthesinglecrystallinity
基于TEM结果,图3a模拟了单斜VO在[001】生
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长方向上(120),(320),(120)和(120)晶面的原子排
列.模拟结果表明除了(320)晶面有较多的钒原子,几
乎所有晶体的切面都是由氧原子构成.这意味着,本文
制备的单斜VO纳米棒一般带负电荷,而其中小部分如
(320)晶面带正电荷.因此,单晶纳米棒被认为呈现带
负电荷的特性.由于SAED不能表征其他横向晶面,只
能通过SPM技术来表征他们的电荷特性.图4给出了单
晶纳米棒的表面形貌和电位分布图.扫描后可以清楚的
看到,在纳米棒交汇点有两个深且陡峭的电位谷.结果
表明该部分带负电荷,与前面的模拟结果高度吻合.与
此相反,其他横向晶面几乎与基板有相同的电位.所有
这些因素表明,整个剩余的表面电荷主要由垂直横向表
面提供,如图3a所示.
a.单斜VOz
b.四方VO:
?——O
——
V
图3SMT过程VO2表面原子排列模拟图
Fig.3Simulationoftheatomsarrangementofsurfaceof
V02forsemiconductor—metal-transition
室温下,纯VO是单斜对称结构,在较高温度下
(68?)会转变成四方结构.四方结构的VO(R)沿
c轴V—V等间距均匀分布,在低于68?转变成单斜结
构的VO(M)是沿C轴形成V—V配对,构成z链段.
这种扭曲降低了对称性.单斜和四方晶胞间存在以下
C—D
E—F
图4单晶纳米棒的SPM表面形貌和电位分布
Fig.4Scanningprobemicroscopy(SPM)imagesshowing
themorphologyandpotentialdistribution
关系:
=2,
=
m
=
,
一
此外,V.Eyert等人研究了VO:(R)和VO.(M)的衍
射图.结果表明,所有四方结构VO(R)的衍射图都能
在VO:(M)的基础上按以下的矩阵求得.
00
一
l0
01
通过这种转换,VO(R)对应VO(M)(120),
(320),(120),(120)晶面的等效晶面分别为(411),
(433),(411),(411).图3b给出了四方VO对应晶
面的原子排列.有趣的是,在这两组对应的晶面之
间,表面原子排列呈反向变化(简单对比相关表面电
荷).从图3(b)中可以发现,除了(433)晶面有较
多氧原子,几乎所有晶面的切面都是由钒原子构成.
作为一个整体,本文制备的四方VO纳米棒一般应带
正电荷.
为了验证上述模拟结果,对VO:纳米棒的表面电荷
特性进行Zeta电位测量.随着加热?冷却过程的持续,
在VO(R)和VO(M)相变过程中,可以成功观测到溶
液中的电荷可逆转变状态.图5a是纯水中VO纳米棒
Zeta电位与温度的关系图.作为参考图5b给出_『同一
样品(呈干粉末状态)的DSC曲线.Zeta电位与粒子表
面电位有一定的关系,值得注意的是,它并不等同于表
面电位,因为在颗粒外表面形成了双电层.在图5a的
加热一冷却循环中,可以观察到Zeta电位的可逆和突
变.Zeta电位经历了一个巨大变化,在加热过程中,
从25?的一65mV上升到80?的+40mV,同理冷却过程
亦然.
论文摘译77
40
20
0
一
20
一
40
-
60
-
80
3U4UU6U,UUjU4U,UOU,U
T(?)T(?)
ab
图5Zeta电f_C_/温度曲线与VO.纳米棒DSC曲线
Fig.5CurvesofzetapotentialVS.temperatureand
DSCcurvesforVO2nanorods
通常将VO的相变温度(r)定义为光/电测量过程
中加热曲线的中点值.与此对应,在Zeta电位测量实验
中,相变温度为63?,非常接近DSC测量值.这也明
显表明,VO的SMT可以通过观察Zeta电位的变化测
量.作为一个一阶相变,Zeta电位随温度变化显示出滞
后现象,与DSC测量相符.此外,这种温度一表面电荷
转变机理可以延伸至许多应用领域.例如,可以通过调
整温度,使VO:纳米棒静电吸引或排斥一些带电荷物
质.这种机理可以用于一些温控材料传送系统(如
DDS).
3.结论
利用TEM,SPM和Zeta电位测试水热法合成的VO:
单晶纳米棒的表面电荷特性.模拟和SPM测试表明,
纯剩余电荷对垂直横向晶面影响较大.通过模拟两相
(即单斜和四方)的晶体结构,表明了VO单晶纳米棒
在相变温度前后的晶面原子排列情况.由于VO:纳米棒
SMT过程中的晶格扭曲,氧原子主要暴露在大部分单斜
VO:纳米棒表面,而钒原子主要暴露在四方VO纳米棒
表面.Zeta电位测量显示了带负电荷的VO(M)和带正
电荷VO(R)单晶纳米棒之间表面电荷的可逆转变,同
时证明了这种转变与温度相关.该现象有望应用于各相
关领域.
(张竞编译)
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