宽禁带半导体技术
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2005.9
设 计 天 地 D es ig n F i e l d
概述
根据半导体材料禁带宽度的不同,可分为宽禁带半
导体材料与窄禁带半导体材料。若禁带宽度Eg<2ev(电
子伏特),则称为窄禁带半导体,如锗(Ge)、硅(Si)、砷
化镓(GaAs)以及磷化铟(InP);若禁带宽度Eg>
2.0~6.0ev,则称为宽禁带半导体,如碳化硅(SiC)、氮化
镓(GaN)、4H碳化硅(4H-SiC)、6H碳化硅(6H-SiC)、氮
化铝(AlN)以及氮化镓铝(ALGaN)等。宽...
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2005.9
设 计 天 地 D es ig n F i e l d
概述
根据半导体材料禁带宽度的不同,可分为宽禁带半
导体材料与窄禁带半导体材料。若禁带宽度Eg<2ev(电
子伏特),则称为窄禁带半导体,如锗(Ge)、硅(Si)、砷
化镓(GaAs)以及磷化铟(InP);若禁带宽度Eg>
2.0~6.0ev,则称为宽禁带半导体,如碳化硅(SiC)、氮化
镓(GaN)、4H碳化硅(4H-SiC)、6H碳化硅(6H-SiC)、氮
化铝(AlN)以及氮化镓铝(ALGaN)等。宽禁带半导体材
料具有禁带宽度大、击穿电场强度高、饱和电子漂移速
度高、热导率大、介电常数小、抗辐射能力强以及良好
的化学稳定性等特点,非常适合于制作抗辐射、高频、
大功率和高密度集成的电子器件;而利用其特有的禁带
宽度,还可以制作蓝、绿光和紫外光器件和光探测器件。
因此,美国、日本、俄罗斯等国都极其重视宽禁带半导
体技术的研究与开发。从目前宽禁带半导体材料和器件
的研究情况来看,研究重点多集中于SiC和GaN技术,
其中SiC技术最为成熟,研究进展也较快;GaN技术应
用广泛,尤其在光电器件应用方面研究比较深入。
目前,多家半导体厂商演示了具有高功率、高功率
附加效率(PAE)、高增益以及较宽工作带宽的宽禁带半
导体。这些器件工作频率范围很宽,从不足1GHz到
40GHz,而且性能优异。虽然自20世纪90年代以来的
10多年时间里,SiC器件的演示结果非常喜人,但是高
性能宽禁带器件的产量一直很低。一个主要原因就是
无法得到理想的SiC基底——不但要具有足够高电阻
系数,可以提供半绝缘特性,而且严重缺陷(如微孔)
数量要足够低。由于没有高质量的基底,就无法通过
宽禁带材料的同质/异质外延生长获得制作微波与毫米
波器件所需的高度一致性、具有足够高电子迁移率的
大尺寸晶片。
值得一提的是,在过去的3年里,SiC基底研制进
展迅速,不仅圆片直径有所加大,而且缺陷数量与电阻
率都达到了大批量生产性能优异的宽禁带器件与
MMIC(单片微波集成电路)的技术要求。此外,宽禁带
外延结构演示结果也令人满意。例如,GaN HEMT(高
电子迁移率晶体管)在2.1GHz时饱和功率输出174W,
PAE高达54% ,其150W输出功率(2.1GHz)的线性增
益为12.9dB。
技术现状
在过去的几年里,由于美国政府以及商业部门的
大力支持,宽禁带半导体技术取得迅速进展。尤其是
2002年美国国防先进研究计划局(DARPA)启动与实施
的宽禁带半导体技术计划(WBGSTI),已成为加速改进
SiC、GaN以及AlN等宽禁带半导体材料特性的重要催
化剂。
在该计划第一阶段(2002~2004年)期间,市售SiC
基底直径已由2英寸增加到3英寸;同时,部分供应商
正在研制4英寸SiC基底,预计2006年商品化。目前,
至少一家供应商(如Cree公司)已经建立SiC器件与
MMIC圆片代工厂,并出售高功率SiC器件。表1则给
出利用MBE(分子束外延)以及MOCVD(金属有机化
宽禁带半导体技术
Wide Ba ndga p Se miconduc tor Technology
表1 WBGSTI第一阶段GaN外延生长结果
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制作出高功率、高效率X波段器件。BAE系统公司已
经对其进行演示,不但演示了器件在微波频段具有的
优异性能,还演示了毫米波器件(工作频率35 GHz,输
出功率3.5W,PAE 22%)的制作能力。
另一项成功地提高宽禁带半导体器件性能
的技术是场电极(field-plates)技术。利用该技术
制作的器件具有极高的击穿电压、高输出功率
以及较高的PAE。一个例子是GaN HEMT,当
偏压120V,工作频率4 GHz时,其输出功率密
度为32.2W/mm,PAE 高达54.8%。
未来发展
WBGSTI第一阶段的成功为美国国防先进研
究计划局继续该计划奠定了坚实的基础。
WBGSTI第二阶段在2005~2007年进行,将实现
GaN基高可靠、高性能微波与毫米波器件的大批
量生产。第三阶段将在2008~2009年进行,将研
制成功GaN基高可靠、高性能MMIC,并在若干
种模块中演示其应用。由于民用系统也将大量使
用宽禁带与MMIC,这将有助于其产量的稳定。
在WBGSTI第二阶段与第三阶段将建立全
面的设计、生产与封装能力,并演示宽禁带器件
与MMIC预期的高性能、高可靠性以及可承受
的生产成本。
同时,宽禁带材料最优化的研制工作仍将
继续。
关于宽禁带器件与MMIC的应用演示,将
包括以下3种模块:
¥ X波段发射与接收(T/R)模块。该模块将
包括1个宽禁带功率放大器和1个宽禁带低噪声
放大器MMIC。预计该模块的其它特性,如尺寸
以及整个接收器的噪声系数性能,将相当或优
于现有T/R模块。
¥ Q波段高功率放大器模块。该模块包含的
宽禁带功率放大器MMIC性能见表2,其工作频
率在40 GHz以上。
¥ 宽带高功率放大器模块。该模块包含宽禁
带功率放大器MMIC,其工作瞬间带宽超过10
合物气相沉积)技术生长的GaN外延层性能指标。同
样,在获得可再现高电子迁移率活性层以及在材料特
性一致性方面也取得了令人满意的结果。
最近,Cree公司收购的ATMI公司在GaN基底上
表2 WBGSTI第二、三阶段技术目标参数
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倍(例如,从2GHz到20GHz),包括X波段。
WBGSTI未来两个阶段的发展还将包括大量的可靠
性测试与评估,目的是确保所生产的宽禁带器件与
MMIC性能长期稳定与可靠。开发有效的宽禁带器件与
MMIC制作工艺,也是该计划的重点之一。同时,还将
推出经济可承受的封装方法,以保证MMIC在所需环境
条件下达到其全部性能并高可靠地工作。另外,如何在
这些封装或组装模块的大批量生产中使手工操作减至最
少也是一个不容忽视的问题;为了搞好封装制作,进行
模块的热-电-磁仿真也是一项不可或缺的工作。
应用展望
WBGSTI将研制出宽禁带材料、器件、MMIC以及
T/R模块的制作设备,随着性能优异的宽禁带器件与
MMIC的实现,包括雷达、智能武器、电子对抗系统以
及通信系统在内的在众多军事系统与民用产品的性能
将得到极为明显改善。展望未来,宽禁带半导体器件
的主要应用领域包括:
¥ 实现半导体照明。国内外倍加关注的半导体照明
是一种新型的高效、节能和环保光源,将取代目前使
用的大部分传统光源,被称为21世纪照明光源的革命,
而GaN基高效率、高亮度发光二极管的研制是实现半
导体照明的核心技术和基础。
¥ 提高光存储密度。DVD的光存储密度与作为读
写器件的半导体激光器的波长平方成反比,如果DVD
使用GaN基短波长半导体激光器,则其光存储密度将
比当前使用GaAs基半导体激光器的同类产品提高4~5
倍,因此,宽禁带半导体技术还将成为光存储和处理
的主流技术。
¥ 改善军事系统与装备性能。高温、高频、高功率
微波器件是雷达、通信等军事领域急需的电子器件,如
果目前使用的微波功率管输出功率密度提高一个数量
级,微波器件的工作温度将提高到300℃,不仅将大大
提高雷达(尤其是相控阵雷达)、通信、电子对抗以及
智能武器等军事系统与装备的性能,而且将解决航天
与航空用电子装备以及民用移动通信系统的一系列难
题。 (李耐和)
搜索半导体,电子产品世界网站有2133篇相关文章。
理想状态下,LC串联谐振电路完全谐振
时电感和电容两端电压大小相等,相位相反,互相抵
消。但实际元器件并不能使电路达到完全谐振状态,那
么功率运放输出端的电压有可能在正弦峰值时超出电
源电压,损坏功率运放。通过两个钳位二极管对低内
阻的电源放电,以防止意外的峰值电压造成损坏。二
极管采用超快恢复二极管,其连续电流应大于功率运
放峰值电流,反向耐压值应至少为电源电压的两倍,电
路设计中选用的是HER604(6A/300V)。
应注意的问题
图2中R2与R3的参数特别是温度系数要一致,否
则,在高温和低温时,有可能出现振荡器不起振,或者
振荡波形失真的现象。电路调整完毕,R3最好换成相
同阻值的固定金属膜电阻,以减小阻值漂移引起激磁
电源参数变化的可能性。稳压二极管对激磁电源电路
的输出电压的稳定性影响较大,需要选择温漂小的双向
稳压二极管,最好选用带温度补偿的稳压二极管。这
样即使电源电路长期连续工作,其输出的正弦波频率
及电压参数以及波形失真度仍能满足使用要求,保证
应用激磁电源的系统精度。
结语
无信号源的自激式激磁电源的设计,突破了传统
的激磁电源的设计理念,减少了设计环节,简化了电
源结构,降低了电路成本,提高了可靠性。经实际应
用,能够长期稳定地工作,输出电压的频率和幅值稳
定精度高。特别是功率运放反相驱动和LC串联谐振原
理的应用,使一套振荡器电路可以同时输出三种不同
幅值的正弦波电压,能够满足不同的使用需求。
参考文献:
1. 虞厚柏,‘激磁电源初探’,舰船光学,1991.1
搜索电源,电子产品世界网站有1728篇相关文章。
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