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氮化硅陶瓷的低温液相烧结

2011-10-28 4页 pdf 232KB 71阅读

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氮化硅陶瓷的低温液相烧结 第34卷 增刊 2005年 6月 稀有金属材料与工程 RAREMETALMATERJALSANDENGlNEERING VOI.34,Suppl.1 June2005 氮化硅陶瓷的低温液相烧结 孙兴伟,郭峰,黄莉萍 f中国科学院上海硅酸盐研究所,卜海200050、 摘 要:选择Mg—Al—si系统和ca—Al—si系统作为氯化硅陶瓷的烧结助剂。通过组分设计,选择相图中最低共熔点时的 化学组成,对氯化磷陶瓷的低温烧结进行研究,发现氮化硅陶瓷的烧结温度可以降低到l600℃左右,抗折强度可达600 MPa以}‘,...
氮化硅陶瓷的低温液相烧结
第34卷 增刊 2005年 6月 稀有金属材料与工程 RAREMETALMATERJALSANDENGlNEERING VOI.34,Suppl.1 June2005 氮化硅陶瓷的低温液相烧结 孙兴伟,郭峰,黄莉萍 f中国科学院上海硅酸盐研究所,卜海200050、 摘 要:选择Mg—Al—si系统和ca—Al—si系统作为氯化硅陶瓷的烧结助剂。通过组分设计,选择相图中最低共熔点时的 化学组成,对氯化磷陶瓷的低温烧结进行研究,发现氮化硅陶瓷的烧结温度可以降低到l600℃左右,抗折强度可达600 MPa以}‘,硬度HRA可达900MPa。 关键词:氮化硅:液相烧结;烧结温度 中图法分类号:1、Q174 文献标识码:A 文章编号:l002一185x(2005)sI一028l一03 1 前言 氮化硅陶瓷是典型的高温高强结构陶瓷,但较高 的烧结温度是限制该材料得到更广泛应用的一个重要 原因。当前的低温活化烧结主要是通过2个途径来实 现:(I)原料粉体的细化,从微米级到亚微米级和纳 米级⋯;(21通过液相烧结米降低烧结温度口。j。陶瓷 材料的液相烧结是以一定数晕的多元低其熔化合物 为烧结助剂,可以在较低烧结温度F得到致密的陶瓷 材料[4】。氮化硅是强共价键化合物,其自扩散系数很 小,致密化所必须的体积扩散及晶界扩散速度很小, 无法靠固相烧结达到致密化,必须加入少量氧化物烧 结助剂,在高温烧结过程r"它们与氮化硅面的si02 反麻形成氧(氮)化物液相,通过颗粒重排、溶解一再沉 淀、以及晶粒生长机理烧结成致密体口4J。 本研究选择Mg—Al—si系统和ca.AI.si系统作为氮 化硅陶瓷液相烧结的烧结助剂,根据棚剧,通过组分 设计,研究添加剂种类和添加量对氮化硅陶瓷的烧结 性能的影响,以了解低温液相烧结rlt的物理和化学过 程,以及显微结构控制对陶瓷材料性能的影响规律。 2实验 采用自制的氮化硅粉末,其含氮量大于36.5% (表1)。添加的烧结助剂MgO,A1203,caO,si02 等均为市售,纯度为99%以r。根据相图,选择烧 结助剂最低共熔点时的化学组成,分别按一定比例 加入氯化硅粉中混合,以无水乙醇为介质,经行星 式球磨混合、粉碎、干燥(表2)。用光透沉降法测 试粉末粒径,平均粒径为O46um。将配好的粉末干 压成试条,然后冷等静压f98MPa)。采用无压烧结工 艺,烧结温度为1500℃~1650℃,保温1h,在流 通N2保护气氛中烧成。所制备的氮化硅试样经粒径 为68¨m的金刚石砂轮细磨成3mm×4mm×36mm 试条,用来测试力学性能。 用排水法测试样品的密度;用Instronll95材料试 验机以三点法测试试样抗弯强度,其跨距30mm,加 载速度05mm/min;样品抛光后,用压痕法测试样品 的断裂韧性。用x射线衍射对材料进行丰u分析,用 sEM、电子探针等手段观察分析试样的显微结构。 3结果与讨论 3.1 添加剂对氮化硅陶瓷烧结性能的影响 图l为4种配方的氮化硅材料相对密度与烧结温 度的关系。图l表明,烧结温度从1500℃提高到1600 ℃,氮化硅材料的密度随着烧结温度的提高而迅速提 高,烧结温度达到1600℃时,烧结样品基本达到致密。 在这烧结温度范围内,随着烧结温度的提高,液相量 添加较少的配方1和3的密度比液相量添加较多的配 方2和4的密度提高快。烧结温度继续提高到l650 ℃时,液相量添加较多的配方2和4的密度反而略有 下降:液相量添加较少的配方1和3的密度略有提高。 表1 sbN4粉末原料特性 nbIel CharacteristicsofSi3N4powder 收稿日期:2004.12—30 基金项目:国家“973”资助项H(G2000067204—2);上海市科委资助项目(02Jcl4叭7) 作者简介:孙兴伟,1969年牛,男,预士,高级丁程师,中国科学院上海硅酸盐研究所,上海200050E—matl:S女n基型@婴趔.s吐§£:虬 Tel:021—52414217 万方数据 ·282· 稀有金属材料与工程 34卷 表2氮化硅样品的化学配比 Temperatum,℃ 图l具有不同添加剂的氮化硅材料的相对密度与烧结温度关系 F主glhjativedens时ofsi3N4asamnctionofaidcontentand sinteringtemperature 氮化硅的液相烧结,在烧结的开始阶段,当添加 剂形成的液相粘度较低时,它可产生较大的毛细管力, 这种毛细管力作用在颗粒上,导致颗粒滑移,使颗粒 进一步重排,排除气孔,提高材料的致密度。另外si3N4 颗粒在液相中有一定的溶解度,颗粒问可通过液相完 成溶解一淀析过程,实现快速传质,加速材料的致密 化。当添加剂含量较低时,由于在烧结过程中形成的 液相含量较少而使这一致密化过程放慢,在相同的条 件F,得到的材料密度较低。增加液相数量,降低了 整个复合体系在烧结时的粘度,致密化程度就会提高。 提高烧结温度时,玻璃相粘度降低,同时si3N4颗粒 在玻璃相中的传质得到加快,从而使氮化硅材料的密 度继续增加。在添加剂含量较高时,较低的温度就可 以形成较多的液相起到促进烧结的l::j的,由丁二在较低 的温度下,材料已具有较高的密度,继续提高烧结温 度对其密度的增加影响不大。根据相罔,Mg.A1.si系 多元共熔化台物熔点为1355℃:ca.A1.si系多元芡熔 化合物熔点为l270℃,都比传统的Y203、A1203烧结 助剂的熔点要低,因此可以通过降低液相形成温度达 到降低烧结温度的目的。这也是在1 600℃烧结温度 F,同样的液相量的ca.A1.sj系比Mg.A1.si系的相对 密度高的原因。 3 2低温液相烧结材料的显微结构和性能 图2为4种配方的抗折强度与烧结温度的关系; 图3为4种配方的硬度与烧结温度的关系。氮化硅材 料的力学性能的变化规律与相对密度的变化规律相类 似。烧结温度在1600℃以下,氮化硅材料的相对密度 越高,致密化效果就越好,相应的抗折强度和硬度也 就高;当烧结温度达到1600℃以上时,氮化硅陶瓷烧 结相对致密,这时决定材料力学性能的主要因素是材 料的显微结构和相组成,如晶粒大小、晶界强度等。 烧结时的液相冷却后大多呈玻璃态存在于陶瓷材料的 晶界处。晶界状态是决定其电性能、热性能和力学性 能的极其重要的因素。这时陶瓷中液相量多,抗折强 度和硬度等力学性能就低;液相量少,则抗折强度和 硬度等力学性能就好。 另外,从图l可以看出,在1500℃~1600℃烧 结,致密化程度急剧增加,并在1600℃已接近完成。 而氮化硅陶瓷在1400℃~l600℃温度范围内,会发生 a—}肼目变,但只有烧结温度达到l600℃后,材料中 硼才会基本转变为肼目(见图4)。Jac妒1等人认为:a 相是某种组成的氧氮化物,其结构中嵌入了氧,而口 相是不含氧的氮化物。这说明在1500℃~1600℃烧 结,氮化硅陶瓷口相颗粒溶入液相,沉淀出难溶解、 更稳定的肼目氮化硅。而相变自由能变化可成为溶解一 沉淀致密化过程的驱动力。 Tempemtur“℃ 图2材料抗折强度与烧结温度的关系 Fig2 Relationshfpofsinteringtemperaturcandm砒erialnexural sⅡen蛋h 1bmDeratur“℃ 图3材料硬度与烧结温度的关系 Fi吕3Relationsh徊ofsintefingtemperatureal】dmaterlalhardness 日白苣暑wH_占∞彗H当山 量苫o『I×Ⅷl∞∞Qc口H墨 万方数据 孙兴伟等:氮化硅陶瓷的低温液相烧结 ·283· .乒Si3N4 ’d—Si3N4 ● ● ^ {二 咏。b。M~ 40 35 30 25 20 2洲f。、 图4 l 600℃烧结的氨化硅材料的xRD图谱 Fig4 XRD呻nem8forS13N4materialat1 600℃sinteri“g tcmperature 配方3样品为在l600℃下烧结所得到的致密氮 化硅,其抗弯强度为630MPa,对其材料显微结构作 sEM分析。材料的显微结构如图5所示。从图5可以 看出,材料结构致密,玻璃相较少,但其显微结构中 的氮化硅颗粒发育不充分,长柱状颗粒较少。这可能 由于在l600℃温度下,缃氮化硅晶粒通过溶解.再沉 淀过程发育的程度较小。另外,口相氮化硅的长径比与 材料的组分、烧结时间有关。氮化硅材料的力学性能 首先取决于口相氮化硅的长径比,其次才是颗粒尺寸。 圈5配方3样品的显微结构照片 Fig.5SEMmicrographof3“sample 4结论 选择Mg.A1.si系统和ca—AI—si系统作为氮化硅陶 瓷的烧结动剂。通过组分设计,选择相图中最低共熔 点时的化学组成,发现氮化硅陶瓷的烧结温度可以降 低到l600℃左右,抗折强度口J达600MPa以上,硬 度HRA可达900MPa。 氮化硅陶瓷在I500℃~I600℃烧结,氯化硅陶 瓷口相颗粒溶入液相,沉淀出难溶解、更稳定的肼目氮 化硅。要想在低温下烧结获得有理想结构和较佳力学 性能的氮化硅陶瓷,必须设法提高低温时氮化硅晶粒 在液相中的溶解度,通过控制液相的性能,如体积、 粘度等,促进肼目氮化硅颗粒沿c轴优先生长,控制颗 粒的直径,从而有利于其显微结构发育,得到满意长 径比的口相氮化硅。 参考文献References 【1]TianMi“gyuan(田明原)“d,.山“rH口“旷如。7舶njc胁托,抽b (无机材料学报)fJ】,】998,13:129 [2】zhangYufcng(张玉峰)酣以如“埘Ⅱ,0,抽。信dHfc肘n,∥蛔b (无机材料学报)【J】,1998,13:599 【3】Tanshouhong(谭寿洪)“吐J。"埘口,0,拍P∞In邸P&m卅l— a曲clP州硅酸盐学报)【J】,1998,26:191 【4】sunYihai(孙义海)“dl如“M耐盯血。曙口H缸^妇』盯fdh(尤机 材料学报)【J1,2002,17:357 【5】Ya“gJF“口t,一蝌&阳聊岛c【J]’2000,83(8):2094 【6】sunEY酣“J一肌om小岛c[J】,1998,8l(11):283l 【7】AbeO.J^如槽r&f口l,1990,25:4018 [8]zha“gY(张勇)甜口,R口即^如,d,^如把r抽b删d£昭fHP盯‘馏 (稀有金属材料与工程)【J],2003,32(s1):655 ℃啦LvXt吕鑫)eI击.RDreMe|甜M口fert。b鲫dE船iH即ri耀t稀 有金属材料与工程)【J】,2003,32(s1):129 LiquidPhaseSinteringOfSiliconNitrideCeramicsatLowTemperature SunXingwei,GuoFeng,HuangLiping (shanghailnstituteofceramics,chineseAcademyofsci如ceshanghai,shanghai200050,china) Abstract:TheMg—AI。SisystemandC孙Al—si5y虹emarechosentobetheadditiveforthesintedngofsiliconnltfideceramicsHave designedth。proponion,theIowtemperatllresInteringOfsilic。nnitddecefamicsisstudiedbychoosi“gthechemicaIcompositionsontlle eutecti。pointin‘llephaseplctureItisfoundthatthesinteringtempe阳“reofslliconnitrideceramlcscanbeIoweredtol600℃,thebend shen垂hcanreach600MPa,andnlehardness(HRA)c蛆be900MPa. ’ Keywords:sjliconn“ride;liquidphasesInterI“g;sin诧d“gtemperature Bjogra劬y;Slmxi“gwej,Mast%shanghajJnstitu【eofceralnics,ChineseAcademyofscience,shanghai200050,PRchitla 万方数据 氮化硅陶瓷的低温液相烧结 作者: 孙兴伟, 郭峰, 黄莉萍, Sun Xingwei, Guo Feng, Huang Liping 作者单位: 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050 刊名: 稀有金属材料与工程 英文刊名: RARE METAL MATERIALS AND ENGINEERING 年,卷(期): 2005,34(z1) 参考文献(9条) 1.吕鑫 查看详情 2003(z1) 2.张勇 查看详情 2003(z1) 3.Abe O 查看详情[外文期刊] 1990 4.Sun E Y Microstructural design of silicon nitride with improved fracture toughness: II, effects of yttria and alumina additives[外文期刊] 1998(11) 5.Yang J F Influence of Yttria-Alumina Content on Sintering Behavior and Microstructure of Silicon Nitride Ceramics[外文期刊] 2000(08) 6.孙义海 低温烧结细晶Y-TZP[期刊]-无机材料学报 2002(2) 7.谭寿洪 查看详情 1998 8.张玉峰 查看详情 1998 9.田明原 查看详情 1998 本文链接:http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_xyjsclygc2005z1080.aspx
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