ISO EN 17636中文

焊缝的无损试验——熔焊接点的放射检验 焊缝的无损试验——熔焊接点的放射检验 目录 TOC \o "1-2" \h \z \u 1.范围 2 2.的参考文献 2 3.术语和定义 2 3.1额定厚度 t 2 3.2穿透深度 w 2 3.3 物体到胶片的距离 b 3 3.4射线源大小 d 3 3.5 射线源到胶片的距离 SFD 3 3.6射线源到物体的距离 f 3 3.7直径 De 3 4符号和缩写 3 5.放射技术的等级 3 6概述 4 6.1致电离射线辐射的防护 4 6.2表面准备和生产步骤 4 6.3在放射照片中焊缝的位置 4 6.4 放射的标识 4 6.5标注 5 6.6胶片的重叠 5 6.7图像质量指数的类型和位置 5 6.8图像质量的评估 6 6.9最低图像质量值 6 6.10人员资格 6 7进行辐射摄影建议的技术 6 7.1检验调节 6 7.2电压和辐射源的选择 9 7.3胶片体系和屏幕 10 7.4光束的调准 12 7.5扩散辐射的减少 12 7.6辐射源至物体的距离 12 7.7一个单独照射的最大区域 13 7.8辐射摄影术的色度 14 7.9处理 14 7.10胶片观测条件 14 8试验报告 15 附录A（规范化的） 16 铁的最低图像质量值 16 A.1单面墙技术，IQI在辐射源边 16 附录B（介绍性的） 20 圆形对接焊合格试验的参考曝光数量 20 参考文献 21 1.范围 本国际标准规定了金属材料熔焊接点放射检验的基本技术。采用最经济的来获得满意效果和可以复验的结果。该技术是基于普遍认可的实践和基础性理论基础上的。 此国际标准适用于板或管上的熔焊接点的试验。它是根据ISO5579上的基本条款的。 此国际标准没有规定读数的验收等级。 2.标准的参考文献 下列参考文献是本标准应用不可缺少的部分，对于有日期的参考，只有标注日期的版本有效，对于没有标注日期的参考，采用最新的版本（包括任何的修订本）。 ISO 2504，焊缝摄影和胶片观察条件——图象质量显示器(I.Q.I)推荐图谱的利用； ISO5580，无损检验——工业用射线摄影照明装置——最低限度要求 ISO11699-1，无损检验.——工业射线摄影胶片——.第1部分:工业辐射摄影术用胶片系统的特性 ISO11699-2，无损检验.——. 工业射线摄影胶片——第2部分:利用参考值控制胶片加工 3.术语和定义 本标准采用下列的属于和定义。 3.1额定厚度 t 母材的额定厚度 注：加工公差不考虑在内。 3.2穿透深度 w 在额定厚度基础上计算的辐射线束方向的材料厚度。 注：对于多层屏障技术，穿透厚度的计算来自额定厚度。 3.3 物体到胶片的距离 b 测试物体辐射面发出射线面到胶片表面之间的距离，沿辐射射线光束的中心轴测量。 3.4射线源大小 d 射线源大小 3.5 射线源到胶片的距离 SFD 射线源和胶片的距离，按光束的方向测量 3.6射线源到物体的距离 f 射线源和测试物体射线源边之间的距离，沿沿射线光束的中心轴测量。 3.7直径 De 管额定的外部直径 4符号和缩写 本标准采用表1中给出的符号和缩写： 表1——符号和缩写 符号 定义 t 额定厚度 w 穿透厚度 b 物体到胶片的距离 d 射线源大小 SFD 射线源到胶片的距离 f 射线源到物体的距离 De 直径 5.放射技术的等级 放射技术分为两级： ——A级：基本技术 ——B级：改良的技术 技术的选择要在试验前选定，在A级技术不能很好的感光时采用B级技术。 注：有比B级还好的技术，但是没有包含在国际标准范围内。 如果因为技术原因，不能够满足B级规定的条件之一，如，射线源的类型或射线源到物体的距离f, 可以采用A级规定的条件。但是，损失的感光度要通过增加最小密度至3.0或者采用更高的对比度的胶片系统来弥补。由于和A级更好的感光度相比，试验样品可能被作为B级来检验，但是如果特定减少的SFD，如7.6试验调节所述，这就并不适用了，需要采用7.14和7.15. 6概述 6.1致电离射线辐射的防护 当采用致电离射线时， 必须严格实施地区、国家或国际的安全预防。 警告：人体任何部位暴露在放射或γ射线下将导致对身体严重伤害。无论在哪里使用放射设备或辐射源，必须满足法律要求。 6.2表面准备和生产步骤 在缺陷表面或涂层难以检查缺陷的地方，表层要打磨光滑或者去除涂层，否则，表面准备就没有必要了。 除非其它规定，放射将在最后一步加工步骤之后进行，如，在打磨或热处理之后。 6.3在放射照片中焊缝的位置 在放射照片没有清楚的展示焊缝的地方，高密度的标识将放在焊缝的任何一边。 6.4 放射的标识 符号要固定到进行X照片的每一面上，这些符号的图像将出现在放射照片外区域上，确保其每一面的标识清楚。 6.5符号 为了正确的查出每个放射照片的位置，要在被检测的物体上做上上永久性的符号。 在材料的特性和/或服务条件不允许永久性符号的地方，分布图可以用精确的素描的方式进行记录。 6.6胶片的重叠 在照射照相的一个地方有两个或更多个单独的胶片时，胶片要求完全重叠，确保中心范围能够完整的被照到。这将通过出现在每个胶片上的物体表面高密度的符号进行验证。 6.7图像质量显示器的类型和位置 图像的质量通过采用IQI进行验证，根据ISO2504. 使用的IQI更多是放在检验物体射线源的一边，与物体表面接近。IQI置于一均匀厚度面上，以胶片上均匀的光学密度为特征。 根据IQI的型号，按照以下要求进行放置： a)​ 当使用有线性IQI时，线要垂直于焊缝，并且其位置要保证至少10mm 的线的长度能够在均匀的光学密度上显示出来，这通常在临近焊缝的金属母材上。在曝光时，根据7.1.6和7.1.7，IQI可以放置为线穿过管中心轴，但是它们伸出至焊缝图像内。 b)​ 当使用梯形/孔型IQI时，要按照能够使要求的孔的数量紧挨焊缝的方法进行放置。 在根据7.1.6和7.1.7进行在曝光时，IQI可以放在射线源或胶片的任何一边。如果不能将根据以上a 所述的条件放置IQI，IQI将放在胶片的一边，图像质量则与放在放射源一边和在相同条件下放在胶片一边的作比较而得。 对于双面曝光，当IQI放置在胶片一边时，以上试验则没有必要了，在这种情况下，参考表A.1至A.12. 在IQI放置在胶片一边时，字母”F” 要置于接近IQI的位置，且这要记录在试验报告中。 如果采用了能够保证相似试验物体和区域的辐射摄影术能够产生完全相同的曝光和技术，并在图像质量值上无任何差别，图像质量不需要每个都进行鉴定，但是，图像质量的鉴定范围要在试验前进行规定。 对于管的直径大于等于200毫米，且射线源集中发射，在其周围至少要均匀放置3个IQI， 显示IQI图像的胶片则视为全部周长的代表。 6.8图像质量的评估 曝光的胶片根据ISO5580进行观察。 要对辐射摄像影术上的IQI图像进行检验，判定能够辨认的最小线或孔的数量。如果在均匀感光密度上有至少连续10毫米的能够清楚可见的线的图像，则为合格的。在台阶型和孔型的IQI情况下，如果有两个相同直径的孔，两个都要能够看得清楚以便梯形也能看得见。 获取的图像质量要记录在试验报告上，也要清楚的陈述所采用的IQI的类型。 6.9最低图像质量值 表A.1至A.12给出了铁材料的最低图像质量值。国际标准的使用者要根据EN462-4判定这些值是否能够用在其他材料的上。 6.10人员资格 最终焊缝验收的无损检验和结果的评估要由有资质有能力的人员进行操作，建议人员根据ISO9712的要求或者同级标准，满足相关工业部门满足适当等级的的要求。 7进行辐射摄影建议的技术 7.1检验调节 7.1.1概述 建议的摄影技术根据7.1.2至7.1.9 根据7.1.6椭圆的技术（双面/双图像）不能应用于外直径大于100毫米，厚度大于8毫米，焊缝宽度大于四分之一直径的情况。如果直径小于0.12，两个替换的90°图像已满足要求了，两个焊缝图像之间的距离大约为一个焊缝的宽度。 当很难进行椭圆直径小于等于100毫米的检验，可以采用根据7.1.7垂直技术（见图12），在这种情况下，要求三次曝光分开，120°或60°。 当检验调节根据图11、13和14时，要尽可能的降低光束的偏差，以防止两个图像的重叠。放射源与物体的距离也要根据7.6保持在最小，IQI放在临近胶片有一个铅字母“F”的地方。 当物体几何外形或材料厚度不允许采用7.1.2至7.1.9所列出的技术时，可能会用到其它摄影技术，多胶片技术不能用于减少在均匀平面上的曝光时间。 注：获取管上对接焊整个周长合格射线覆盖有效范围的辐射摄像的最小数量在附录B中给出。 7.1.2辐射源位于物体前，胶片在另一边 见图1 注：1 辐射源 2 胶片 图1——平板壁和单面穿透的试验调节 7.1.3辐射源位于物体以外，胶片以内 见图2-4 注：1 辐射源 2 胶片 图2——弯曲物体单面穿透的试验调节 注：1 辐射源 2 胶片 图3——弯曲物体单面穿透的试验调节（插入的焊缝） 注：1 辐射源 2 胶片 图4——弯曲物体单面穿透的试验调节（相接的焊缝） 7.1.4辐射源集中在物体以内中心位置，胶片以外 见图5-7 注：1 辐射源 2 胶片 图5——弯曲物体单面穿透的试验调节 注：1 辐射源 2 胶片 图6——弯曲物体单面穿透的试验调节（插入的焊缝） 注：1 辐射源 2 胶片 图7——弯曲物体单面穿透的试验调节（相接的焊缝） 7.1.5辐射源位于物体内，偏离中心，胶片以外 见图8-10 注：1 辐射源 2 胶片 图8——弯曲物体单面穿透的试验调节 注：1 辐射源 2 胶片 图9——弯曲物体单面穿透的试验调节（插入的焊缝） 注：1 辐射源 2 胶片 图10——弯曲物体单面穿透的试验调节（相接的焊缝） 7.1.6椭圆技术 见图11 注：1 辐射源 2 胶片 图11——弯曲物体两面评估的双面穿透，双个图像的试验调节（辐射源和胶片都在检验物体以外） 7.1.7垂直技术 见图12 注：1 辐射源 2 胶片 图12——弯曲物体两面进评估的双面穿透，双个图像的试验调节（辐射源和胶片都检验物体以外） 7.1.8辐射源位于物体以外，胶片在另一边 见图13-18 注：1 辐射源 2 胶片 图13——弯曲物体对紧邻胶片面进行评估的双面穿透，单个图像的试验调节，IQI挨着胶片 注：1 辐射源 2 胶片 图14——弯曲物体双面穿透，单个图像的试验调节 注：1 辐射源 2 胶片 图15——弯曲物体纵向焊缝的双面穿透，单个图像的试验调节 注：1 辐射源 2 胶片 图16——弯曲物体对紧邻胶片面进行评估的双面穿透，单个图像的试验调节 注：1 辐射源 2 胶片 图17——角焊缝穿透的试验调节 注：1 辐射源 2 胶片 图18——角焊缝穿透的试验调节 7.1.9不同材料厚底的技术 见图19 注：1 辐射源 2 胶片 图19——多胶片技术 7.2电压和辐射源的选择 7.2.1 500kv的X射线设备 为获得良好缩孔感光度，X射线管电压要尽可能的低，最大值对应的厚度在图20中给出。 在有些被摄影区域的厚度不同的应用中，可以使用一种能稍微调高电压的技术，但是必须要注意，过高的电压将导致缺陷检查感光度的减少。对于钢材的增额不能大于50kv, 钛的增额不能大于40kv,铝的不能大于30kv。 注：1 铜/镍和合金 2 钢 3钛和合金 4铝和合金 图20——穿透的材料和厚度的500kv X射线设备的最大电压 7.2.2其它辐射源 1Mev以上，γ射线和X射线装置允许穿透的厚度范围在表2中给出 注：可能规定lr192值减少至10毫米，Se75减少至5毫米 在薄的钢件样品上，来自Se75、Ir192和Co60的γ射线形成的射线图不如采用适当技术和参数的X射线有良好的缺陷检查感光度。但是在处理和可接近性方面，γ射线源比X射线装置有优势。 表2给出了那些在使用X射线比较困难的时候采用γ射线源的厚度范围。 某些应用中，如果能够获得满意的图像质量，允许较宽的厚度范围。 在使用γ射线产生射线图时，到射线源的行程时间不能大于所有曝光时间的10%。 表2—— 能量1Mev及以上，钢、铜和镍及基本合金的γ射线源和X射线装置穿透的厚度范围 射线源 穿透厚度 A级测试 B级测试 Tm170 W≤5 W≤5 Yb169a 1≤W≤15 2≤W≤12 Se75 b 10≤W≤40 14≤W≤40 Ir192 20≤W≤100 20≤W≤90 Co60 40≤W≤200 60≤W≤150 X 射线装置，能量在1Mev-4Mev 30≤W≤200 50≤W≤180 X 射线装置，能量在4Mev-12Mev W≥50 W≥80 X 射线装置，能量在12Mev以上 W≥80 W≥100 a 铝和钛，材料的穿透范围A级为：10mm＜W＜70mm，B级为25mm＜W＜55mm b铝和钛，材料的穿透范围A级为：35mm＜W＜120mm 7.3胶片体系和屏幕 射线照相试验，胶片体系的等级根据ISO11699-1 不同的辐射源，最低胶片体系的等级在表3和表4中给出。 当采用金属屏幕时，要求胶片和屏幕要有良好的接触。这可以通过采用真空包装的胶片或者采用压力的办法来实现。 不同的辐射源，表3和表4展示了建议的屏幕材料和厚度。 注：如果达到了要求的图像质量，也可以采用其它屏幕厚度。 表3——钢、铜和镍及基本合金放射的胶片体系等级和金属屏幕 辐射源 穿透厚度 w 胶片体系等级a 金属屏幕厚度和型号 A级 B级 A级 B级 X射线电压≤100kv C5 C3 铅字前后屏幕，没有或至0.03毫米 X射线电压＞100kv至150kv 铅字前后屏幕至0.15毫米 X射线电压＞150kv至250kv C4 铅字前后屏幕0.02至0.15毫米 Yb169 Tm170 W＜5 C5 C3 铅字前后屏幕没有或至0.03毫米 W≥5 C4 铅字前后屏幕0.02至0.15毫米 X射线电压＞250kv至500kv W≤50 C5 C4 铅字前后屏幕0.02至0.2毫米 W＞50 C5 铅字屏幕前0.1至0.2毫米b 铅字屏幕后0.01至0.2毫米 Se75 C5 C4 铅字屏幕前0.02至0.2毫米b 铅字屏幕前0.1至0.2毫米b 铅字屏幕后0.01至0.2毫米 C060 W≤100 C5 C4 铜或钢前后屏幕0.25至0.7毫米c W＞100 C5 X射线装置，能量在1Mev至4Mev W≤100 C5 C3 铜或钢前后屏幕0.25至0.7毫米c W＞100 C5 X射线装置，能量在4Mev至12Mev W≤100 C4 C4 铜、钢或钽前后屏幕至0.1毫米d 100＜w≤300 C5 W＞300 C5 铜或钢后屏幕至1毫米，钽至0.5毫米d X射线装置，能量在12Mev以上 W≤100 C4 — 钽前屏幕至1毫米，没有后屏幕e 100＜w≤300 C5 C4 W＞300 C5 钽前屏幕至1毫米e 钽后屏幕至0.5毫米 a 可以采用更好的胶片体系等级 b 如果补充的0.1毫米的铅屏幕放在物体和胶片在之间，则可以使用包装好的胶片，前屏幕至0.03毫米 c 在A级中，0.5毫米至2.0毫米的铅屏幕也可以使用 d 在A级中，0.5毫米至1毫米的铅屏幕也可以使用 e 钨屏幕也可以使用 表4——铝和钛辨认屏幕的胶片体系等级 辐射源 胶片体系等级a 辨认屏幕的类型和厚度 A级 B级 X射线电压≤150kv C5 C3 铅前屏幕，没有至0.03后屏幕至0.15毫米 X射线电压＞150kv至250kv 铅前后屏幕0.02至0.15毫米 X射线电压＞250kv至500kv 铅前后屏幕0.1至0.2毫米 Yb169 铅前后屏幕0.02至0.15毫米 Se75 铅前屏幕0.2毫米b, 后屏幕0.1至0.2毫米 a可以采用更好的胶片体系等级 b 作为0.2毫米的铅，带有0.1毫米滤色镜的0.1毫米的屏幕也是可以使用的 7.4光束的调准 辐射光束要对着要检测的中心区域，垂直于该点的物体表面，除当其能够表明缺缺陷通过不同的光束的调准能够最好的揭示缺陷时外。在这种情况下，允许适当的调节光束。 7.5扩散辐射的减少 7.5.1滤色镜和视准仪 为了减少反向散射的辐射的影响，要尽可能多的平行校正辐射至要检测的平面上。 用Ir192和Co60作为辐射源或有边缘分散的情况下，可以在物体和暗匣之间使用一个铅板作为低能量散射的辐射滤色镜。这个板的厚度可以根据穿透的厚度在0.5毫米至2毫米之间。 7.5.2反向散射的辐射的拦截 如果有必要的话，可以通过足够厚度的铅（至少1毫米）或锡（至少1.5毫米），放在胶片-屏幕接景后，这样就可以保护胶片不受反向散射辐射的影响。 反向散射辐射的存在可以通过每个试验调节的铅字母（最低高度为10毫米，最薄厚度为1.5毫米）“B”及时放在暗匣后面进行检验。如果符号记录的图像如一个比较淡的图像将被视为不合格，如果符号比较黑或看不见，为合格的，并且证明了其是很好的防止了反向散射辐射的。 7.6辐射源至物体的距离 辐射源至物体的最小距离fmin根据放射源的大小d和物体至胶片的距离b a B级 b A级 图21——根据放射源的大小d和物体至胶片的距离b，决定辐射源至物体的最小距离fmin 的列线图 放射源到物体的距离f, 要选取在可实践的地方，f/d的比率根据下列公式： A级： f/d≥7.5（ ）2/3 （1） B级： f/d≥15（）2/3 （2） b 的尺寸以毫米(mm)计 如果距离b＜1.2t, 在公式（1）和（2）和图21中的尺寸b 将被额定厚度t代替。 放射源到物体的最小距离的确定，可以使用图21的列线图。列线图也是基于公式（1）和（2）的。 在A级中，如果发现平面缺陷，最小距离与B级的相同以便通过系数2减少几何外形的不明晰。 在易裂材料中关键技术应用，要采用比B级更为敏感的射线摄影技术。 当使用椭圆技术，7.1.6所述，或者垂直技术，7.1.7所述时，在公式（1）（2）和图21中b将由外直径De代替。 当辐射源在物体以外，胶片在另一边时（如7.1.8所述，两面穿透，单面图像），放射源到物体的距离只由能壁面厚度决定。 如果放射源可以放在物体以内进行照射（如7.1.4和7.1.5所述技术）获取测试更合适的方向，当避免双面技术（见7.1.6至7.1.8），此种方法更好。放射源至物体的最小距离的减少不能大于20%，当放射源位于物体中心位置，胶片在外时，（如7.1.4所示），且IQI设备是满足要求的，这个比例可以增加，但是但是不能超过50%。 7.7一次单独曝光的最大区域 要规定平整焊缝检验（见图1和15）和弯曲焊缝试验且射线源为离心的（见图2-至4和8至16）照相数量。 评估均匀厚度以外区域边缘穿透厚度和激光束中心的比不能大于1.1（B级），不能大于1.2（A级）。 由任何穿透厚度的变化引起的密度不能低于7.8所给出的，也不能高于现有的允许的反光镜，如果适当的遮光可能的话。 被检查的区域大小包括焊缝和热处理带，一般来讲，焊缝每边母材金属大约10毫米需要检查。 一个圆形对接焊缝合格试验的照相数量的建议值在附录B中给出。 7.8辐射照相的密度 曝光条件应该要辐射摄影术检测区域的最小光学密度要根据表5. 表5—辐射摄影术的光学密度 等级 光学密度a A B ≥2.0b ≥2.3c a 允许测量公差为+0.1 b 如果规定的话，可能降低至1.5，如在应用标准中 c如果规定的话，可能降低至2.0，如在应用标准中 当观测光线足够明亮时，可以才用高的光学密度，根据7.10 为防止胶片老化、显影或温度带来的灰雾密度过高，灰雾密度要定期从使用过的胶片中抽取没有曝光的样品上进行检查，处理和加工完全按照实际辐射摄影术的实际操作条件进行。灰雾密度不能大于0.3，这儿的灰雾密度定义为加工的没有曝光的胶片的总密度（感光乳剂和底线）。 当使用多胶片技术，单胶片的破解时，每个胶片的感光密度要根据表5. 如果要求对双胶片进行观测，每个单个胶片的感光密度不能低于1.3. 7.9处理 胶片要根据胶片和化学剂生产商给出的建议进行处理，以便获得精确的胶片体系等级，尤其要注意温度，显影时间和冲洗时间。胶片加工要根据ISO11699-2进行定期的控制，辐射摄影术不能有因加工或其它原因造成的缺陷，这会影响解读的。 7.10胶片观测条件 辐射摄影要在黑暗的放进进行观测，观看屏幕上要有适当的亮度，根据ISO5580.观看屏幕要对照片区域进行蔽光。 8试验报告 对每一次照射或每一组照射，要制定一个测试报告，给出所使用的辐射摄影的技术，和其它任何能够更好理解结果的特殊环境。 试验报告要包含一下的信息： a)​ 测试主体名称 b)​ 检测的物体 c)​ 材料 d)​ 热处理 e)​ 焊缝的几何外形 f)​ 材料厚度 g)​ 焊接工艺 h)​ 测试规范包括合格的要求 i)​ 辐射技术和等级，要求的IQI感光度，根据国际标准 j)​ 试验调试，根据7.1 k)​ 采用的符号系统 l)​ 胶片位置的计划 m)​ 辐射源，焦点的类型和大小，和使用设备的鉴定 n)​ 胶片、屏幕和滤色镜 o)​ 采用的电压和电流或源的放射性 p)​ 照射时间和源在至胶片的距离 q)​ 加工技术：人工的/自动的 r)​ 图像质量显示器的型号和位置 s)​ 测试的结果，包括胶片密度、IQI读数的数据 t)​ 任何与本国际标准的偏差，通过特定协商的 u)​ 姓名、证书参考和负责人签字 v)​ 照射和试验报告的日期 附录A（规范化的） 铁材料的最低图像质量值 A.1单面墙技术，IQI在辐射源边 见表A.1和A.2 表A.1——线性IQI 表A.2—梯状/孔状IQI 图像质量A级 额定厚度t IQI 值a ≤ 1.2 ＞ 1.2 ≤ 2 ＞ 2.0 ≤ 3.5 ＞ 3.5 ≤ 5.0 ＞ 5.0 ≤ 7.0 ＞ 7.0 ≤ 10.0 ＞ 10 ≤ 15 ＞ 15 ≤ 25 ＞ 25 ≤ 32 ＞ 32 ≤ 40 ＞ 40 ≤ 55 ＞ 55 ≤ 85 ＞ 85 ≤ 150 ＞ 150 ≤ 250 ＞ 250 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 W4 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出 的值如果如想下列所示，也可以接受： 10mm-24mm: 至2 ＞24mm-30mm，至1 图像质量A级 额定厚度t IQI 值a ≤ 2 ＞ 2.0 ≤ 3.5 ＞ 3.5 ≤ 6.0 ＞ 6.0 ≤ 10 ＞ 10 ≤ 15 ＞ 15 ≤ 24 ＞ 24 ≤ 30 ＞ 30 ≤ 40 ＞ 40 ≤ 60 ＞ 60 ≤ 100 ＞ 100 ≤ 150 ＞ 150 ≤ 200 ＞ 200 ≤ 250 ＞ 250 ≤ 320 ＞ 320 ≤ 400 ＞ 400 H3 H4 H5 H6 H7 H8 H9 H10 H11 H12 H13 H14 H15 H16 H17 H18 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出 的值如果如想下列所示，也可以接受： 10mm-24mm: 至2 ＞24mm-30mm，至1 A .2 单面墙技术，IQI 在IQI在辐射源边 表A.3——线性IQI 表A.4—梯状/孔状IQI 图像质量B级 额定厚度t IQI 值a ≤ 1.5 ＞ 1.5 ≤ 2.5 ＞ 2.5 ≤ 4.0 ＞ 4.0 ≤ 6.0 ＞ 6.0 ≤ 8 ＞ 8.0 ≤ 12 ＞ 12 ≤ 20 ＞ 20 ≤ 30 ＞ 30 ≤ 35 ＞ 35 ≤ 45 ＞ 45 ≤ 65 ＞ 65 ≤ 120 ＞ 120 ≤ 200 ＞ 200 ≤ 350 ＞ 350 W19 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出 的值如果如想下列所示，也可以接受： 12mm-40mm: 至1 图像质量B级 额定厚度t IQI 值a ≤ 2.5 ＞ 2.5 ≤ 4.0 ＞ 4.0 ≤ 8 ＞ 8.0 ≤ 12 ＞ 12 ≤ 20 ＞ 20 ≤ 30 ＞ 30 ≤ 40 ＞ 40 ≤ 60 ＞ 60 ≤ 80 ＞ 80 ≤ 100 ＞ 100 ≤ 150 ＞ 150 ≤ 200 ＞ 200 ≤ 250 H2 H3 H4 H5 H6 H7 H8 H9 H10 H11 H12 H13 H14 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出 的值如果如想下列所示，也可以接受： 12mm-40mm: 至1 A.3双面墙技术，双图像；IQI在辐射源一边 见表A.5和A.6 表A.5——线性IQI 表A.6—梯状/孔状IQI 图像质量A级 穿透厚度w IQI 值 ≤ 1.2 ＞ 1.2 ≤ 2 ＞ 2.0 ≤ 3.5 ＞ 3.5 ≤ 5.0 ＞ 5.0 ≤ 7.0 ＞ 7.0 ≤ 12.0 ＞ 12 ≤ 18 ＞ 18 ≤ 30 ＞ 30 ≤ 40 ＞ 40 ≤ 50 ＞ 50 ≤ 60 ＞ 60 ≤ 85 ＞ 85 ≤ 120 ＞ 120 ≤ 220 ＞ 220 ≤ 380 ＞ 380 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 W4 W3 图像质量A级 穿透厚度w IQI 值a ≤ 1 ＞ 1 ≤ 2 ＞ 2 ≤ 3.5 ＞ 3.5 ≤ 5.5 ＞ 5.5 ≤ 10 ＞ 10 ≤ 19 ＞ 19 ≤ 35 H3 H4 H5 H6 H7 H8 H9 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出 的值如果如想下列所示，也可以接受： 至3.5mm: 至2 ＞3.5mm-10mm，至1 A.4双面墙技术，双图像；IQI在辐射源一边 见表A.7和A.8 表A.7——线性IQI 表A.8—梯状/孔状IQI 图像质量B级 穿透厚度w IQI 值 ≤ 1.5 ＞ 1.5 ≤ 2.5 ＞ 2.5 ≤ 4 ＞ 4.0 ≤ 6.0 ＞ 6.0 ≤ 8.0 ＞ 8.0 ≤ 15 ＞ 15 ≤ 25 ＞ 25 ≤ 38 ＞ 38 ≤ 45 ＞ 45 ≤ 55 ＞ 55 ≤ 70 ＞ 70 ≤ 100 ＞ 100 ≤ 170 ＞ 170 ≤ 250 ＞ 250 W19 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 图像质量B级 穿透厚度w IQI 值a ≤ 1 ＞ 1 ≤ 1.5 ＞ 1.5 ≤ 4 ＞ 4.0 ≤ 6 ＞ 6.0 ≤ 11 ＞ 11 ≤ 20 ＞ 20 ≤ 35 H2 H3 H4 H5 H6 H7 H8 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出 的值如果如想下列所示，也可以接受： 4mm-11mm，至1 A.5双面墙技术，单/双图像；IQI在胶片一边 见表A.9和A.10 表A.9——线性IQI 表A.10—梯状/孔状IQI 图像质量A级 穿透厚度w IQI 值 ≤ 1.2 ＞ 1.2 ≤ 2 ＞ 2.0 ≤ 3.5 ＞ 3.5 ≤ 5.0 ＞ 5.0 ≤ 10 ＞ 10 ≤ 15 ＞ 15 ≤ 22 ＞ 22 ≤ 38 ＞ 38 ≤ 48 ＞ 48 ≤ 60 ＞ 60 ≤ 85 ＞ 85 ≤ 125 ＞ 125 ≤ 225 ＞ 225 ≤ 375 ＞ 375 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 W4 图像质量A级 穿透厚度w IQI 值a ≤ 2 ＞ 1 ≤ 5 ＞ 5 ≤ 9 ＞ 9 ≤ 14 ＞ 14 ≤ 22 ＞ 22 ≤ 36 ＞ 36 ≤ 50 ＞ 50 ≤ 80 H3 H4 H5 H6 H7 H8 H9 H10 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出 的值如果如想下列所示，也可以接受： 5mm-3.5mm: 至2 ＞9mm-22mm，至1 A.6双面墙技术，单/双图像；IQI在胶片一边 见表A.11和A.12 表A.11——线性IQI 表A.12—梯状/孔状IQI 图像质量B级 穿透厚度w IQI 值 ≤ 1.5 ＞ 1.5 ≤ 2.5 ＞ 2.5 ≤ 4 ＞ 4.0 ≤ 6 ＞ 6.0 ≤ 12 ＞ 12 ≤ 18 ＞ 18 ≤ 30 ＞ 30 ≤ 45 ＞ 45 ≤ 55 ＞ 55 ≤ 70 ＞ 70 ≤ 100 ＞ 100 ≤ 180 ＞ 180 ≤ 300 ＞ 300 W19 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 图像质量B级 穿透厚度w IQI 值a ≤ 2.5 ＞ 2.5 ≤ 5.5 ＞ 5.5 ≤ 9.5 ＞ 9.5 ≤ 15 ＞ 15 ≤ 24 ＞ 24 ≤ 40 ＞ 40 ≤ 60 ＞ 60 ≤ 80 H2 H3 H4 H5 H6 H7 H8 H9 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出 的值如果如想下列所示，也可以接受： 5.5mm-9.5mm: 至2 ＞9.5mm-24mm，至1 附录B（介绍性的） 圆形对接焊合格试验的参考曝光数量 在表B.1至B.4中给出的最低曝光数量对外直径大于100毫米的管有效。 当对接点壁面厚度偏差进行 检查时，当使用单次曝光△t/t，不超过20%，采用图B.3和B.4.该技术只建议在横向裂缝比较小或裂缝的此类缺陷已经通过了其它无损试验的情况下使用。 当△t/t小于或 等于10%时，采用图B.1和B.2。在这种情况下，很可能横向裂缝也经过检查的。 如果物体进行横向裂缝检查，那要求的辐射摄影的最低数量与表B.1至B.4相比，要有所增加。 图B.1——曝光的最小数量，N， 单墙穿透并在放射源在外，由于在评估区域穿透的减少引起的最大允许穿透厚度△t/t增加为10%， 功能比t/De,De/f 图B.2——曝光的最小数量，N， 离心穿透且放射源在内，双墙穿透，由于在评估区域穿透的减少引起的最大允许穿透厚度△t/t增加为10%， 功能比t/De,De/f 图B.1——曝光的最小数量，N， 单墙穿透并在放射源在外，由于在评估区域穿透的减少引起的最大允许穿透厚度△t/t增加为20%， 功能比t/De,De/f 图B.2——曝光的最小数量，N， 离心穿透且放射源在内，双墙穿透，由于在评估区域穿透的减少引起的最大允许穿透厚度△t/t增加为20%， 功能比t/De,De/f 参考文献 【1】​ ISO5579——无损检测——金属材料用X射线和γ射线照相检验——基本规则 【2】​ ISO9712——无损检测——人员资格鉴定认证 【3】​ EN462-4——无损检测——辐射摄影的图像质量——第四部分：图像质量值和图像质量表的感性评价