ni pxi和 labview延长 射频功率缩小器的特 征化时间[精品]

ni pxi和 labview延长 射频功率缩小器的特 征化时间[精品] NI PXI和 LabVIEW缩短 射频功率放大器的特 征化时间 "我们使用NI PXI,能够将新组 件的特征化时间从两 周缩短为大约一 天。" - Gary Shipley, TriQuint Semiconductor The Challenge: 在不牺牲测量精度或 提高设备成本的情况 下,缩短对日益复杂 的无线功率放大器 ,PA,的特征化时 间。 The Solution: 使用NI LabVIEW软件 和NI PXI模块 化仪器开发功率放大 器特征化系统,让我 们在减小资产设备成 本、功率消耗和物理 空间的同时,将测试 吞吐量提高了10 倍。 我们使用NI PXI和 LabVIEW减小 特征化系统的尺寸、 成本和功率消耗,并 缩短总特征化时间。 Author (s): Gary Shipley - TriQuint Semiconductor 关于 TriQuint Semiconductor TriQuint是 一个高性能射频解决的领导者, 其产品涉及复杂移动 设备、国防与航天应 用以及网络基础设施 等方面。现在, TriQuint通 过使用GaAs、 GaN、SAW和 BAW技术为世界各 地的组织提供创新的 解决方案。工程师和 科学家借助 TriQuint的 创新提高了产品的性 能,并降低了其应用 的总成本。 现有功率放大器特征 化技术的挑战 尽管无线射频功率放 大器主要被在单 频带单模式下工作, 现代的功率放大器要 满足更为多样化的需 求。实际上,现代功 率放大器的设计可以 工作在八个或更多频 带下,并且能够用于 包括GSM、 EDGE、 WCDMA、 HSPA+、LTE 等多种调制类型。 在 TriQuint Semiconductor, 我们需要在多种频 率、电压电平、温度 和功率范围下测试日 益复杂的组件。一个 典型组件完整的特征 化过程需要大约 30,000到 40,000行数据 对设计进行完全测 试。使用传统的机架 射频测试设备,每行 数据大约需要10秒 收集,这样每个独立 组件需要超过110 小时进行测试。 设计替代的PXI测 试系统 为解决缩短射频组件 特征化测试时间的挑 战,我们基于NI PXI、LabVIEW和NI TestStand,开发了功率放大器 特征化测试系统。我 们的功率放大器测试 台包含以下仪器, NI PXIe- 5673 6.6 GHz矢 量信号发生器 NI PXIe- 5663 6.6 GHz矢 量信号仪 NI PXI- 5691 8 GHz可编程 射频放大器 NI PXIe- 5122 100 MS/s 高速数字化仪 NI PXI- 2596双6x1 26 GHz多路复用器 100 Mbit/s数字 I/O模块 传统机架频谱分析仪 外置功率计、电源 LabVIEW NI TestStand NI GSM/EDGE测 量套件 用于 WCDMA/HSPA+ 的NI测量套件 我们使用 LabVIEW软件 更新了现有的测试计 划,在NI PXI 测试台上完成相同的 测量序列。由于在 PXI测试系统上的 测量速度更快,我们 配置特征化序列尽可 能使用PXI测试 台,仅在需要的时候 才使用传统的机架仪 器。 NI PXI的优点 决定使用PXI的主 要原因是能够在不牺 牲测量精度的情况下 实现更高的测量速 度。通常,在之前射 频放大器测试台上, 射频测量所需的时间 占了整个特征化时间 的绝大部分。PXI 利用高速数据总线、 高性能多核CPU和 并行测量算法实现了 尽可能快的测试速 度。此外,NI GSM/EDGE测 量套件和用于 WCDMA/HSPA+ 的NI测量套件使用 合成测量,所有测量 可以使用一组I/Q 数据完成。我们使用 这些工具包能够测量 例如增益、效率、平 整度、ACP、 ACLR、EVM和 PVT等功率放大器 特征。 使用PXI得到的结 果 通过使用PXI完成 功率放大器测试台的 大部分测量,我们将 功率放大器特征化时 间从两周缩短为大约 24小时。此外,我 们在每个GSM、 EDGE和 WCDMA测量测试 中都观察到了测量时 间的显著改进。 1 比较了传统测试 台和PXI测试台的 测量时间和速度提 升。 传统测试台测试时间 ,s, PXI测试时间 ,s, 速度提升 GSM测试 6 1.1 6倍 1/2 EDGE测试 14 1.1 14倍 WCDMA测试 9 1.1 9倍 在单个测量序列中, PXI测试台完成快6至11倍。时间 了 是基于100帧的测 量得到的。 结论 因为我们使用了 NI PXI模块化 仪器,在无需牺牲测 量精度的前提下显著 缩短了射频功率放大 器的特征化时间。我 们以比原来传统仪器 解决方案相同或更低 的成本,构建了全新 的PXI测试系统。 我们还预期会在未来 的测试系统中使用 NI PXI。 Author Information: Gary Shipley TriQuint Semiconductor 我们使用NI PXI和 LabVIEW减小 特征化系统的尺寸、 成本和功率消耗,并 缩短总特征化时间。 Legal This case study (this "case study") was developed by a National Instruments ("NI") customer. THIS CASE STUDY IS PROVIDED "AS IS" WITHOUT WARRANTY OF ANY KIND AND SUBJECT TO CERTAIN RESTRICTIONS AS MORE SPECIFICALLY SET FORTH IN NI.COM'S TERMS OF USE ). 2/2