集成电路专业测试技术培训课程介绍

集成电路专业测试技术培训课程介绍 Testing Training Brochure 集成电路专业测试技术培训课程介绍 - 1 - Table of Content Page 1 Introduction Page 3 Training Introduction Page 6 Training Course Catalog Page 8 Detail Course Description Page 9 Digital Signal Testing Basic Page 9 IC testing Knowledge Page 10 Mixed Signal Testing Basic Page 11 Advanced Mixed Signal Fundamental Page Memory Testing Fundamental Page 11 RF/uWave Testing Fundamental Page 14 Cost Guideline Page Page Q&A Appendix Page Page 1 介绍 Page 3 培训介绍 Page 6 培训课程目录 Page 8 课程详细描述 Page 9 数字信号测试基础 Page 9 IC测试知识 Page 10 混合信号测试基础 Page 11 高级混合信号基本原理 Page 存储器测试基本原理 Page 11 RF/uWave 测试基本原理 Page 14 参考价格 Page Page Q&A Page 附录 - 2 - Introduction - 3 - Training by Teradyne China TAG 泰瑞达测试应用部技能发展培训 Teradyne Teradyne, Inc. is the world’s largest supplier of automatic test equipment and is also a leading provider of high performance interconnection systems and electronic manufacturing services. Teradyne was founded in 1960 and became a publicly owned company in 1970. Its headquarters are in Boston, Massachusetts. 泰瑞达公司是全球最大的自动测试设备供应商，也是引领高性能互连 系统和电子制造服务供应商。泰瑞达成立于1960年，在1970成为上 市公司。公司总部设在马萨诸塞州的波士顿。 Teradyne is a leading worldwide supplier of automatic test equipment for logic, RF, analog, power, mixed-signal, and memory technologies. We deliver test solutions to developers and manufacturers of a broad range of integrated circuits, packaged separately or integrated as cells in system-on-a-chip (SOC) devices. ICs tested by Teradyne are used in computing, communications, consumer, automotive, identification, and internet applications. 泰瑞达是引领全球逻辑、RF、模拟、电源、混合信号、存储器技术的 自动测试设备供应商。我们为集成电路开发人员和制造商提供测试解 决，无论独立封装或整合成片上系统(SOC)的器件。经由泰瑞 达测试的集成电路广泛应用于计算机、通讯、消费电子、汽车电子、 身份识别和互联网应用。 Our semiconductor test system customers include electronic component manufacturers and fabless subcontractors to the semiconductor industry. To find out more about Teradyne, please visit our website at 我们的半导体测试系统的客户包括电子元件制造商、设计厂商等半导 体业界诸多公司。 想要了解更多的信息，请浏览我们的网站: - 4 - Test Applications Group (TAG) Recognized as the world's leading professional services organization for semiconductor device testers, Teradyne's Test Applications Group (TAG) delivers Total Test Solutions worldwide. From design to high volume production, TAG's applications engineers are specialists in linear, mixed-signal, logic and memory testing devices. This value-added support includes test cell integration, test program and hardware development, tools for test productivity and skill development training. Teradyne 测试应用部门是全球领先的为半导体器件测试人员提供服务 的专业机构，为半导体业界客户提供全套的测试解决方案。从设计到 量产，TAG的应用工程师都是线性、混合信号、逻辑电路和存储器测 试方面的专家。这种有附加值的技术支持包括测试单元的集成、测试 程序与硬件的开发、量产测试的工具和技能发展培训。 For years, Teradyne's customers have benefited from the device test expertise of Test Applications Group (TAG) engineers. This expertise, acknowledged by TAG's reputation as the leading professional services organization for semiconductor device testers, is continuously enhanced through up-to-date technical training and skill development courses, all of which are available for your engineers and technicians. Deployed globally in regional Technical Centers, TAG's technical training and skill development courses can also be delivered on site by TAG-certified instructors 多年来，Teradyne的客户已经得益于TAG工程师的测试经验。这些专 业的测试工程师，作为公认的半导体器件测试提供服务的专业机构， 不断致力于发展与日新月异的技术相承附的专业技术培训和技能培养 课程，从事测试行业的的工程师和技术人员能够从这些课程中受益。 除了在遍布全球的Teradyne培训中心提供培训，TAG认证的讲师也可 以现场为您提供专业技术培训和技能发展课程。 - 5 - 人人都可以用测试设的培训课程 备和计算机做联系 易懂的培训教材 经验丰富的讲师 普通话教学 经泰瑞达授权的培训中心 Experienced Instructors: Lee(LiGuo ) Zhang EXPERIENCE SMIC, Shanghai, China 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 07/01 – Present Design Service Technical Director 设计服务技术经理 EXPERIENCE SIEMENS Microelectronics., Munich, Germany (Delegation) SIEMENS Microelectronics., Dresden Fab., Germany 德国慕尼黑西门子微电子(授权) 德国德累斯顿 Fab西门子微电子 05/97 – 07/01 Sr. Product/Testing Development Manager 产品/测试开发部资深经理 . EXPERIENCE LATTICE SEMICONDUCTOR CORP., California, USA 美国加利福尼亚Lattice半导体公司 - 6 - 09/94 – 05/97 Manager/Senior Product & Test Development Engineer 产品/测试开发补资深经理 EXPERIENCE ATMEL CORPORATION, California, USA 美国加利福尼亚ATMEL 有限公司 08/91 – 09/94 Sr. Product and Test Engineer in Microcontroller Group . 微控制器产品/测试资深工程师 EXPERIENCE DEINIPPON MANUFACTURING PRINTER CO., JAPAN 06/85 – 03/89 Circuit and System Design Engineer - 7 - Training Course Catalog - 8 - Training Course Catalog 课程目录 , IC testing Knowledge,Digital Signal IC测试技术基础,数字信号部分 , Digital Signal Testing knowledge(Level one) 数字信号测试技术基础(初级篇) , Digital Signal Testing knowledge(Level two) 数字信号测试技术基础(高级篇) , IC testing Knowledge,Mixed Signal IC测试技术基础,混合信号部分 , Mixed Signal Testing knowledge(Level one) 混合信号测试技术基础(初级篇) , Mixed Signal Testing knowledge (Level two) 混合信号测试技术基础(高级篇) , IC testing Knowledge,Memory Testing IC测试技术基础,存储器测试技术部分 , Memory Testing knowledge 存储器测试技术基础 , IC testing Knowledge ,RF/uWave Fundamental - 9 - IC测试技术基础,射频测试技术部分 , RF/uWave Testing Knowledge 射频测试技术基础 - 10 - Detail Course Description - 11 - Digital Signal Testing knowledge(Level one) 数字信号测试技术基础(初级篇) Course Description 课程描述 This course is designed to explain the concepts and techniques used in testing (digital) semiconductors. This course is not tester specific. An overview of the test requirements of the semiconductor industry is presented as well as practical information pertaining to test program development, debugging techniques and yield analysis. DC, AC and Functional tests are discussed in detail. 这个课程解释了(数字)半导体测试的概念和方法。课 程不针对特定的测试设备进行讲解。概括介绍了半导体工业测试需求 、测试程序的开发、现场调试技术及产量分析等。同时详尽介绍了 DC、AC参数测试和芯片功能测试。 With Standard Exam Paper 附有标准的试卷 Duration 课程时间 10 Hours 10小时 Recommended attendee 推荐参加人员: Fresh graduates, Applying job in semiconductor industry 毕业大学生，有志于从事半导体行业 Fresh engineer of semiconductor industry 半导体行业工程师 0~1年经验 Production support engineer 产品工程师 0~1年经验 Application engineer 应用工程师 0~1年经验 - 12 - Digital Signal Testing knowledge(Level two) 数字信号测试技术基础(高级篇) Course Description 课程描述 This course is designed to explain the concepts and techniques with great experience in digital part of testing. This course gives an overview of more advanced knowledge in semiconductor testing, which is presented as well as practical information pertaining to test program development, design debugging techniques and failure analysis. The detail knowledge of DC, AC and Functional tests are discussed in detail. 这个课程利用大量数字器件测试经验来解释测试的概念和技 术。课程提供了先进的半导体测试知识的概述，以及测试程 序、现场调试技术和故障分析等。详细的讨论DC、AC和功 能性测试的知识。 With Standard Exam Paper 附有标准的试卷 Duration 课程时间 10 Hours 10小时 Recommended attendee 推荐参加人员: Testing engineers with few years work experience in semiconductor industry or related industry 从事半导体行业或相关行业经验的测试工程师 1年以上经验 Product engineers or production / manufacturing engineers 产品工程师或生产、制造业工程师 1年以上经验 Application or sales engineers serve in semiconductor area 半导体行业应用或销售工程师 1年以上经验 IC design engineers - 13 - IC设计工程师 1年以上经验 Mixed Signal Testing Knowledge(Level one) 混合信号测试技术基础(初级篇) Course Description 课程描述 This course is designed to explain the concepts and techniques used in testing (mixed-signal) semiconductors. This course is not tester specific. The purpose of this training is to have you understand the components of a mixed signal test system, the principles of sampling theory and how to correctly sample an analog signal, how to create an analog signal for a DUT with a waveform generator, some typical DSP algorithms and when and how they should be used. Lastly how to extract test measurements from sampled data and relate them to device specifications. 这个课程概括了混合信号测试的概念和方法。课程不针对特定的测试 设备进行介绍。培训的目的是介绍混合信号测试系统的组成，采样理 论及如何正确的采样模拟信号等，以及如何用波形发生器为芯片建立 模拟信号，如何在具体应用中选用典型的DSP算法。课程还介绍了如何 从采样数据中确立测试方法并与芯片的参数相联系等的具体内容。 With Standard Exam Paper 附有标准的试卷 Duration 课程时间 8 Hours 8小时 Recommended attendee 推荐参加人员: Fresh graduates, Applying job in semiconductor industry 刚毕业大学生，有志于从事半导体行业 Fresh engineer of semiconductor industry 进入半导体行业的工程师 0~1.5年经验 - 14 - Production support engineer 生产工程师 0~1.5年经验 Application engineer 应用工程师 0~1.5年经验 Mixed Signal Testing Knowledge(Level two) 混合信号测试技术基础(高级篇) Course Description 课程描述 This course is designed to explain the detail concepts with technical application in mixed-signal testing. This course is not tester oriented. The purpose of this training is to have you understand the specifications of a mixed signal with design related knowledge, the principles of sampling theory and how to correctly sample an analog signal, how to create an analog signal from design idea to testing establishment. Lastly how to extract test measurements from sampled data and relate them to device specifications. 这个课程说明了混合信号测试应用技术的详细概念，课程不是以测试 设备为导向的。培训的目的是介绍与混合信号有关的设计知识，采样 理论和如何正确采样模拟信号的原则，如何从设计理念到测试设备来 创造一个模拟信号，最后介绍如何从采样数据中选用正确的测试方法 并与芯片参数相联系的方法。 With Standard Exam Paper 附有标准的试卷 Duration 课程时间 12 Hours 12小时 Recommended attendee 推荐参加人员: - 15 - Testing engineers with few years work experience in semiconductor industry or related industry 从事半导体行业或相关行业经验的测试工程师 1.5年经验以上 Product engineers or production / manufacturing engineers 生产工程师或产品、制造业工程师 1.5年经验以上 Application or sales engineers serve in semiconductor area 半导体行业应用或销售工程师 1.5年经验以上 IC design engineers IC设计工程师 1.5年经验以上 RF/uWave Testing Knowledge 射频测试技术基础 Course Description 课程描述 This class is aimed to introduce common terms used in the microwave-testing environment. Pictures and diagrams are attached to terminology and components to illustrate the concepts. 这个课程介绍射频测试中技术术语，并使用图片和图表进一步阐述这 些概念 It is meant for engineers with little microwave knowledge background. It also allows engineers to efficiently increase their understanding of microwave terminology, components and systems. The slides are prepared to explain microwave theory in simple words without complex mathematics. 这个课程对缺少射频知识背景的工程师很有价值。同样，也能能让工 程师有效地增长与微波术语、测试及系统相关的知识。这个课程使用 简单的语言和图片图表来解释复杂的微波理论。 Duration 课程时间 20 Hours 20小时 Recommended attendee 推荐参加人员: - 16 - Fresh graduates, Applying job in semiconductor industry 刚毕业大学生，有志于从事半导体行业工作 Fresh engineer of semiconductor industry 半导体行业的工程师 0~2年经验 - 17 - Cost Guideline - 18 - Digital Signal Testing Knowledge(level one) 数字信号测试技术基础(初级篇) Cost: RMB 2000 Class Size: 30 trainees/ Minimum 40 trainees/ Maximum Digital Signal Testing Knowledge(level two) 数字信号测试技术基础(高级篇) Cost: RMB 3000 Class Size: 20 trainees/ Minimum 40 trainees/ Maximum Mixed Signal Testing Knowledge(level one) 混合信号测试技术基础(初级篇) Cost: RMB 2000 Class Size: 30 trainees/ Minimum 40 trainees/ Maximum Mixed Signal Testing Knowledge(level two) 混合信号测试技术基础(高级篇) Cost: RMB 3000 Class Size: 20 trainees/Minimum 40 trainees/Maximum Memory Testing Knowledge 存储器测试技术基础 Cost: RMB 2000 Class Size: 30 trainees/Minimum 40 trainees/Maximum RF/uWave Testing Knowledge 射频测试技术基础 Cost: RMB 2000 Class Size: 20 trainees/Minimum 40 trainees/ Maximum - 19 - Course Outline - 20 - Digital Signal Testing knowledge(Level one) 数字信号测试技术基础(初级篇) 内容提要 Topic Description 简单测验(1小时) 课前沟通 1. 半导体测试概念 2. 芯片测试规范 半导体测试概念介绍 第一天 3. 连接性测试 直流参数测试介绍 直流参数测试 芯片功能测试介绍 芯片功能性测试 交流 参数测试介绍 交流参数测试 1. DFT (Design For Test)可测性芯片设计 第二天 其他 2. CMOS Latch-Up 课后练习 课后练习(2小时) Trainer 讲师: Stella Wang 王镇 Maggie zhao 赵咏梅 - 21 - Mixed Signal Testing Knowledge(Level one) 混合信号测试技术基础(初级篇) 内容提要 Topic Description 课前小测验(1小时) 课前练习 1. 混合信号测试概念 2.混合信号测试机台结构 混合信号测试概述 第一天 3. 典型的混合信号测试机台介绍 4. 典型混合信号测试参数介绍 1. 采样和重建理论 2. 采样定律和混叠现象 混合信号测试理论 3. 采样噪声 4. 相关采样定律 1.模数转换器的静态参数概念 第二天 2. 模数转换器的静态参数测试方案 模数转换器的测试 3.模数转换器的动态参数概念 4.模数转换器的动态参数测试方案 1.数模转换器的静态参数概念 2.数模数转换器的静态参数测试方案 数模转换器的测试 3.数模转换器的动态参数概念 第三天 4.数模转换器的动态参数测试方案 课后小测验(2小时) 课后练习 Trainer 讲师: Steven Li 李帆 Simon Chen 陈宰曼 - 22 - Digital Signal Testing knowledge(Level two) 数字信号测试技术基础(高级篇) 内容提要 Topic Description 1. 半导体测试分类及生产流程 2. ATE自动测试机台介绍 3. 测试中的常用术语 半导体测试概念概述 4. 测试理论与测试流程 5. 术语表及段落总结 1. 测试方法的正确思路 2. DUT测试芯片 3. 测试程序 4. 测试机台 半导体测试 5. 测试工程师工作原则 6. 测试芯片的常用术语 7. 其他测试条件 1. 设计规范 第一天 2. 测试规范 3. 芯片规范 4. 测试条件及测试门限 测试规范 5. 直流测试中的参数 6. 交流测试中的参数 7. 逻辑功能和存贮器功能 1. 为什么要进行连接性测试 2. IDD(Gross)测试 3. IDD(静态)测试 4. IDD(动态)测试 DC参数测试 5. Vol/Voh和Vil/Vih测试 6. 输入电流Iil/Iil测试 7. 输入端上拉和下拉电阻 1. 功能性测试概念 2. 测试周期 3. 输入输出数据和向量 4. 运行功能性测试 第二天 功能性参数测试 5. 功能性(Gross)测试 6. Vol/Voh和Vil/Vih的功能性测试方法 7. 高阻态输出电流Ioz的功能性测试 - 23 - 1. 交流参数测试概念 2. Go-Nogo判断测试流程 3. 信号建立时间 4. 信号保持时间 交流参数测试 5. 传播延时的测量 6. 最小时钟宽度 8. 最大频率 1. 测试程序的目的 2. 测试程序开发流程 3. 初始化程序 4. 校验测试环境 测试程序开发 5. 上电和下电顺序 6. 芯片分级处理 7. 总结 Trainer 讲师: Lee (LiGuo) zhang 张理国 Stella Wang 王镇 - 24 - Mixed Signal Testing KnowledgeLevel two () 混合信号测试技术基础(高级篇) 内容提要 Topic Description 1. 连接性测试 2. 漏电流 3. 电源电流 4. 直流参考电压及校准 直流和参数测试 5. 电阻测量 第一天 6. 直流偏置测量 7. 直流放大系数测量 1. 采样和重建 2. 量化误差 模拟信号理论 3. 相关采样 1. 模拟信号类型概述 2. 放大系数和电平测试 模拟信号通路测试 3. 信号失真测试 4. 信噪比和信号失真 第二天 1. 采样信道 2. 采样中需要考虑的问 采样通路测试 3. 编码和解码 4. 采样信道测试 1. 转换器测试基础 2. 直流测试 3. 转换器曲线测试 数模转换器测试 4. 转换器动态参数测试 5. 模数转换器结构 1. 数模转换器和模数转换器测试的区别 第三天 2. 数模转换器编码边界测试 3. 直流和转换曲线测试 4. 模数转换器动态参数测试 模数转换器测试 5. 转换器曲线测试 6. 典型模数转换器的测试 Trainer 讲师: Lee (LiGuo) zhang 张理国 Simon Chen 陈宰曼 - 25 - Memory Testing Knowledge 存贮器测试技术基础 内容提要 Topic Description 1. 非永久性存贮器 2. 非永久性存贮器的评估 非永久性存贮器概述 3. 浮门芯片 4. 电荷注入 1. 可擦除可编程的只读存贮器 2. 电可擦除可编程的只读存贮器(EEPROM) 第一天 3. EEPROM的结构 4. 闪存的工作机制 电可擦只读存贮器和闪存 5. 存贮器的或非门工作结构 6. 存贮器的或非门工作机制相关事项 7. 嵌入式闪存 1. 存贮器测试概述 2. 闪存测试方面 3. 闪存测试的测试工具 4. 直接访问内存 闪存测试 5. Vt测试 第二天 6. Stress模式 7. 损耗和低Vt测试 1. 大生产测试 2. 测试的能力 易测性和存贮单元修复 3. 产品特性表述 1. 可靠性概要 2. 存贮器序列Vt分配 存贮器的可靠性介绍 3. 存贮器序列氧化缺陷 4. 主要的与良率和可靠性相关的事项 1. 可靠性测试概要 第三天 2. 存贮单元的耐受力 存贮器可靠性测试方法 3. 多级存贮可靠性 4. 可靠性测试的结论 1. EEPROM的测试方法 附加的EEPROM的测试方法 Trainer 讲师: Lee (LiGuo) zhang 张理国 Edmond Tan 谈圣杰 - 26 - RF/uWave Testing Knowledge 射频测试技术基础 内容提要 Description 1. 什么是微波? 2. 常用术语和简写 3. 微波技术运用介绍 第一天 4. 传输线理论 传输线举例 标准波理论 5. 从时域到频域 6. 采样的概念 7. 微波的构成 8. 散射参数 9. 在ATE上测试的微波芯片 第二天 10. 典型的微波芯片测试项 Teradyne泰瑞达公司微波测试仪器介绍 Trainer 讲师: Simon Chen 陈宰曼 - 27 - - 28 -