薄膜电阻材料
1991焦 计 算 机 杂 志 第19卷第4期
薄 膜 电 阻 材 料
昊 夫 鼙
摘 要
本文介绍了薄膜电阻材料的主要电参 数 电阻率p,薄层电阻 Rs和电阻温度系数TCR。介绍
了常见的钽系、钛系、铬系、金属硅化物系和透明导电膜等三十多种薄膜电阻材料的主要物理、化学
性质和薄膜淀积方法
一
、 引
2)电阻值精确高, 薄膜电 阻的相对误差
言 可做到6 以内,相对误差比厚膜电阻低几倍,
比半导体扩散电阻低一个数量级。
随着微电子摘术的飞跃发展,对薄膜,厚
膜混台集成电路,半导体集成...
1991焦 计 算 机 杂 志 第19卷第4期
薄 膜 电 阻 材 料
昊 夫 鼙
摘 要
本文介绍了薄膜电阻材料的主要电参 数 电阻率p,薄层电阻 Rs和电阻温度系数TCR。介绍
了常见的钽系、钛系、铬系、金属硅化物系和透明导电膜等三十多种薄膜电阻材料的主要物理、化学
性质和薄膜淀积
一
、 引
2)电阻值精确高, 薄膜电 阻的相对误差
言 可做到6 以内,相对误差比厚膜电阻低几倍,
比半导体扩散电阻低一个数量级。
随着微电子摘术的飞跃发展,对薄膜,厚
膜混台集成电路,半导体集成电路的功能、集
成度、精度、可靠性和使用寿命等,都提出了
越来越高的要求。薄膜混合集成电路的价格高,
但它的无源器件参数精度高,温度系数小,噪
声系数低,高频特性好,可靠性高。在薄膜混
合集成电路的制造工艺中,淀积薄膜电阻材料.
是薄膜混合集成技术重要的环节 一.薄膜 电
阻材料的用途也在不断开拓扩大。例如,在半
导律集成电路中,常采用半导体扩散电阻,它
能满足一般集成电路的要求。但是,在一些特
殊电路中,例如抗辐射电路,所有半导体电阻
在一定辐射环境下,电阻特性消失 都变为导
体.面薄膜电阻具有抗辐射特性,这种情况下,
电路中的电阻必须采用薄膜电阻.在低功耗电
路中,需要采用高阻值电阻,薄膜技术能提供
高电阻率、低温度系数的薄膜电阻器。在高频
电路和某些 高精度 模拟集 成电路中,例如 10
位以上 D-A,A-D转换器, 也多采 用薄膜电
阻.
薄膜电阻具有以下几个特点;
1)可调节的阻值范围宽广,小剜几欧姆,
大到数兆欧姆的电阻都能用薄膜电阻实现.利
用现代光刻技术,改变电阻线条的长宽比,可
以做出阻值范围很宽的任何阻值电阻。
3)电阻温度系数小,比 扩散电 阻低几个
数量级,也优于厚膜电阻。
4)制备高阻值电阻时,可 占有较小的芯片
面积。
6)寄生效应小.
选择合适的薄噗电阻材料,完善电阻器的
薄膜淀积工艺,是薄膜混合集成电路中最关键
技术,本文介绍常用的薄膜电阻材料。
二、薄膜电阻材料的主要电参数
1,电阻率P和薄层电阻Rs
导电金属材料的电阻率 P可由欧姆定律给
出。当金属上施加电场产生电流时,电流密度
,正比于电场强度F,其比例常数 。即为电导
率 :
,= 点 (1)
电阻率 P和电导率。互为倒数关系,即
1
P 寺 (2)
电阻率P为导电材料的固有属性 根据固
体物理理论,它由下式给出:
收到本文时间·1990年 l口月 15日
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· 60 ·
p = (3) (3)
这里: ——单位体积内传导电子的数目,它
由费米能级处的状态 密度 Ⅳ(0)
给出:
m ———传导电子的有效质量;
,一 金属电子的费米速度,可由方程
式 E,=音 ;求得;
— — 传导电子的平均自由程.
金属薄膜材料, 即几 千埃 以下 的金属薄
膜 ,其物理性质和电学特性与块状金属有很大
差异.侧如,金属薄膜 的电阻率p,比块状金
属的电阻率P大得多,而且随薄膜 的厚 度 和
薄膜淀积工艺不同而异。因此 金属薄膜材料
的电阻率不是一常数 ,而是变量.设薄膜厚度
为 d,剐薄膜 的电阻率 p,可 由下 述经验
表示 :
p,=p(1+}-3 ) (4)
薄膜材料异常的电性能,是 由于其结构缺
陷及气柜分子突然凝聚成固相所产生的热力学
不稳定性造成的.在薄膜工艺和薄膜电阻器的
中,与其 用薄膜电 阻率 , 倒不如用薄
层电阻 来表示薄膜的固有电阻 特 性 方 便.
所谓薄层电阻,就是长宽尺寸相等的薄膜材料,
在长度方向或宽度方向上的电阻值,它取决于
材辩的电阻率 p,和厚 度 d, 而与面积的大小
无关.
Rj=号 (6)
薄膜电阻材料的薄层电阻常用四插针仪测
出 如果 巳知材料 的薄层电阻 风 ,则听需电
阻的几何尺寸,即长度和宽度之比可用所需电
,
阻阻 值 求 得, R R .L、 分踟为
电阻的长度和宽度.反之,根据工艺上可加工
的最小线宽,最大长蓖比秘巳知的薄层电阻值,
可以求得可能制作的电阻器最大电阻值.在设
计薄膜电阻器时十分有甩.
2.电阻温度系数TCR
电阻温度系数 TCR是薄膜电阻材 料的重
要参数,它由下式给出
TCR=吉·劳 (6)
很薄的电阻膜,TCR常 常是 负值;很厚
的电阻膜.TCR为正值.一 些薄膜 电阻材料
的实验结果表明,薄层电阻 R =40--60Q/N
的薄膜,电阻温度系数几乎等于零。在设计薄
膜电阻器时,力习勺将薄膜厚度选择在 R =4O~
60~/N范围内, 以获得 TCR=0的电阻器,
保证电阻器在使用过程中电阻值稳定。
电阻温度系数 TCR按下式进行测量;
= 击 .等 (7)
这里: 。——2o℃ 时被测电阻的电阻值:
△ ——温度循 环试 验 时,一65x3 +
1聃℃的电阻值变化;
△ —— 一66℃~ +165℃的温度差.
三、主要薄膜 电阻材料
1.‘钽系材料
钽是一种高熔点(2996~C)稀有金羼 化学
性质非常稳定,体电阻率为15gOcm,常用电
子束蒸发和溅射法获得金属薄膜.用盒属钽制
作薄膜电阻器,似缣电阻率太低.作为薄膜电
阻材料,常采用它的化合物氯化钽.氮化钽薄
膜用反应溅射法翩备,薄膜的性质随溅射装置
而异 即使同一装置,对淀积参数、气氛的清
洁度等也很灵感。在二极溅射装置中,安装一
网眼状 电极接负偏压,进行偏压溅射,可以获
得高稳定性氮化钽薄膜。经过退火处理 , C
可控制到 ±25ppm℃一, 电 阻 率为 10o~5oo
cm.图 1和圈 2分别表 示不伺 氮气浓度和
偏压溅射的氮化钽 薄膜的电阻率和 C 的变
化曲线. ,,
在许多翥精度高阻值电阻阏络和薄膜混合
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图 l 麟射偏压和 N 浓度对 电阻塞的影响
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一
一
一
图 2 谶射偏压和 N 浓度对 TCR的影响
电路中,氮化钽薄膜的电阻率仍嫌较低.为了
提高薄膜的电阻 率,最近开发了 Ta—AI—N和
Ta-Si-o 三元 系 化台物 钽系薄膜电阻材料。
在 Ar-.-Nz混合气氛中、 溅射 Ta-A1台金靶,
可以获得龟阻率很高、TCR较小的薄膜。
囊 l Ta-AI-N薄膜成分和特性
靶材成份 含 N,比率 Pt(u0em) TCR(ppm℃)
63 Ta <48% 20O~ 800 —90
f
3 AI <52 2GOO —l0O~ 一l000
1O一:
I3cm的薄膜电阻材料 作为材料科学领域 2000
年实现的主要课题之一。
目前所研究的薄膜电阻材料,多集中在元
素周期表 ⅣB~ ⅥB过渡金属的台金,它们的
氮化物、氧化物和硅化物,它们的碳化物和硼
化物也是非常有前途的薄膜电阻材料。这些材
料除了有较高的电阻 率和较低的TCR外,还
髂
具有较高的熔点和硬度,有很好的耐磨性和化
学稳定性。随着对它 J物理、化学、电学和机
械性能的研究 它们在薄膜电阻器、电阻网络
薄膜集成电路方面的应用将越来越广泛。
参 考 文 慧
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[5]S.Schiller et a1.,同上 ,111(1984)2'59
~ 26'8.
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