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奥替拉西钾杂质结构分析

2017-11-14 2页 doc 12KB 49阅读

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奥替拉西钾杂质结构分析奥替拉西钾杂质结构分析 奥替拉西钾稳定性试验过程中产生保留时间为 的杂质,代号:CCB,~限度为 。按照ICH Q3A/Q3B指导原则以及2005年SFDA《化学药物杂质研究技术指导原则》的要求~对药物中超过鉴定限度的有关物质皆应明确其来源~并推测可能的结构。 来源推测:CCB在原料中本身存在~原料稳定性试验过程中产生基本不发生变化。据此~推断CCB为原料合成过程中产生的杂质。 结构推测: 1、理论推导法: 奥替拉西钾的合成方法是以尿囊素原料~一步反应制得奥替拉西钾~期间经过开环和闭环反应。反应过程、重结晶均以酸将水...
奥替拉西钾杂质结构分析
奥替拉西钾杂质结构 奥替拉西钾稳定性试验过程中产生保留时间为 的杂质,代号:CCB,~限度为 。按照ICH Q3A/Q3B指导原则以及2005年SFDA《化学药物杂质研究技术指导原则》的要求~对药物中超过鉴定限度的有关物质皆应明确其来源~并推测可能的结构。 来源推测:CCB在原料中本身存在~原料稳定性试验过程中产生基本不发生变化。据此~推断CCB为原料合成过程中产生的杂质。 结构推测: 1、理论推导法: 奥替拉西钾的合成方法是以尿囊素原料~一步反应制得奥替拉西钾~期间经过开环和闭环反应。反应过程、重结晶均以酸将水溶液酸度调节至pH6.0的弱酸性, 奥替拉西钾在酸性条件下破坏CCB明显增大~未见其他显著杂质。据此~可以认为CCB在酸性条件下破坏具有相对的唯一性。 奥替拉西钾六元杂环中含多个酰胺键~且分子为轴对称结构~如下图示: KCO2 4 NNH53 6ONO2H 1 在酸性条件下~能够产生唯一杂质的键断裂点为C-N酰胺键~以及与羧酸钾毗邻的C-N键。由于羧酸根强电负性的影响~与羧酸钾毗邻C-N键的不稳定性显 著高于C-N酰胺键。同时~碳氮双键形成对酸较不稳定的希夫氏碱结构~因此于与羧酸钾毗邻的C-N键处断裂的可能性更大。 因此~可以初步推定奥替拉西钾在酸性条件下开环产生的CCB的结构为: OOO HNNNCOH22HH mw:175.1 2、间接测定法 杂质(CCB) HPLC保留时间为 ~与奥替拉西钾保留时间相比较小。据此推测~CCB的化学极性应高于奥替拉西钾~佐证了CCB为奥替拉西钾在酸性条件下开环产生的羧酸。 另外~将酸破坏的奥替拉西钾进行LC-MS分析~可见明显的HPLC紫外吸收峰、MS峰信号~同时HPLC出峰早于奥替拉西钾~MS峰给出的MS信号为175.9988, 213.9725~初步确定信号175.9988为M+1~信号213.0725为M+K。该测定结果与理论推导法推测的CCB结构式所对应的分子量一致。 因此~在理论推导与间接测定的基础上~可以推定化合物CCB的化学结构式 OOO HNNNCOH22HH为。
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